NI 图形化系统设计加速嵌入式控制与监测系统开发
时间：2012年12月27日 10:00
简介： NI为世界各地的工程师和科学家从设计、原型到发布嵌入式控制与监测系统带来了新的变革。LabVIEW软件和NI 可重配置I/O (RIO)硬件为设计团队提供了一个卓越的设计方法，以便在不需要自定制设计的情况下更快地完成要求苛刻的嵌入式控制与监测任务。NI嵌入式控制与监测系统设计工具是NI图形化系统设计平台的核心组成部分。利用图像化系统设计方法， 结合高效的编程软件对 NI RIO 可重配置硬件进行编...
HDMI 简介与音频测量
时间：2012年12月19日 10:00
简介： 高清晰度多媒体接口(HDMI)已经完全占领了消费产品市场。该接口通过一条电缆传送音频和视频数据，以及状态和控制数据。所有消费类电子设备的 HDMI端口，不论是Blu-ray™播放器、AV 接收机、机顶盒、电视机、视频游戏控制台、PC或最先进的智能手机，都必须经过测试。在产品开发、质量保证和生产线终端测试期间都需要进行测量。即使在HDMI集成电路的开发与测试期间也需要测量。 带有集成 HDMI 选...
高功率半导体器件测试的要点、技巧和陷阱
时间：2012年08月15日 10:00
简介： 虽然功率半导体器件测试曾被认为是一个专业领域，但现在许多研究人员、大学和公司正在对此类器件进行测量。工程师和科学家在从小信号器件测试转移到功率半导体器件测试时将面临新的挑战。本期研讨会将介绍一些常见的挑战并回顾避开这些挑战的方法。 参加研讨会的网友将会了解以下内容： 1.如何检测并抑制器件振荡； 2.如何配置仪器并实现100A高脉冲电流的准确测量； 3.如何利用...
RIGOL UltraVision技术平台及基于该平台的示波器的领先优势
时间：2012年07月24日 10:00
简介： UltraVision技术平台是RIGOL通过五年多的探索和开发而获得的全新的数字示波器技术平台，该技术平台全面提升了示波器的整体性能，达到国际一流水平。在该技术平台下诞生了DS6000、DS4000与DS2000数字示波器，带宽从70MHz到1GHz。这些采用新平台的示波器已经全面进军主流示波器市场，与国外一流厂家同台竞争，同时也填补了国内这一端市场的空白。很多人很好奇，UltraVision到...
高功率半导体器件测试的基础
时间：2012年06月27日 10:00
简介： 近年来，为满足更高效率、更高功率最终产品的要求，对开发功率半导体器件的兴趣骤增。为了提高效率，研究人员把精力集中在改善某些关键器件参数，而且准确测试这些参数才能不断改进器件设计。本期研讨会简要概述了功率器件并考虑了在这些器件研发增长背后的动力，这些器件参数如何影响最终产品的效率，以及应该做什么才能满足功率器件设计人员和测试工程师的需要。...
超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱
时间：2012年05月29日 10:00
简介： 本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果。...
什么是源测量单元（SMU）仪器，怎样为您的应用选择合适的源测量单元（SMU）仪器 ?
时间：2012年03月27日 10:00
简介： 源测量单元（SMU）可以提高生产效率，完成更全面的特性测试，并提高测试系统整体性能。然而，为了真正优化测试，在为应用选择合适的源测量单元（SMU）时，必须综合考虑“说明书中的性能指标”。 此次在线研讨会将介绍源测量单元（SMU）的工作原理，说明选择源测量单元（SMU）仪器时需要考虑的关键因素及性能，以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...
泰克公司 RFID 测试方案
时间：2012年01月10日 10:00
简介： RFID 技术概述 – RFID 定义及标准 – RFID 信号特点 – RFID 测试挑战 RFID 信号测试 – 嵌入式 RF 调测 – RFID 标准符合性测试 – RFID 互通性测试 泰克 RFID 测试方案 – MDO4000 混合域示波器在 RFID 嵌入式 RF 调测中的应用 – 实时信号分析仪及 MDO4000 在RFID 标准符合性测试中的应...