现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪
网友 |
问题 |
日期 |
【问】chana0322 |
我对大家说: 对于不同导通条件下,器件的内阻追踪性能如何? |
2013-07-31 10:36:57 |
【答】 |
? 您指的是RdsON Rds off 这类的参数吗 |
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【问】ffj0828 |
电容最小分辨率多少 |
2013-07-31 10:35:55 |
【答】 |
请参考4200上CVU的指标~~~ PCT测量C 使用的是4200CVU |
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【问】Snake0301 |
输出电阻够大吗? |
2013-07-31 10:35:44 |
【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦! |
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【问】chana0322 |
对于不同导通条件下,器件的内阻追踪性能如何? |
2013-07-31 10:35:36 |
【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦! |
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【问】linghz |
质保期多长时间?行业内价位水平? |
2013-07-31 10:34:49 |
【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦! |
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【问】hzj515 |
推销仪器吗? |
2013-07-31 10:34:37 |
【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦! |
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【问】rock2013 |
今天是高功率半导体吧! |
2013-07-31 10:34:15 |
【答】 |
主要是拿功率半导体举例 |
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【问】ezcui |
是否还有哪些附加配置(或夹具)可供客户灵活选用? |
2013-07-31 10:33:11 |
【答】 |
基本都在这里了~~ 仪器 夹具 软件~~探针台连接电缆等 转接头等 |
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【问】ezcui |
是否还有哪些附加配置可供客户灵活选用? |
2013-07-31 10:32:16 |
【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦! |
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【问】fml927 |
这个和LCR的区别主要体现在哪里? |
2013-07-31 10:30:44 |
【答】 |
PCT 主要帮助大家测量半导体器件的参数~~ 这些参数与LCR的简单 电感 阻抗 电阻测量有很大区别~~ 主要是测量的定义不同 |
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【问】ezcui |
吉时利拥有哪些仿真测试优势? |
2013-07-31 10:29:10 |
【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦! |
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【问】Qncom |
ok |
2013-07-31 10:28:44 |
【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦! |
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【问】qq14535217 |
测量结果有多少位啊 |
2013-07-31 10:28:22 |
【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦! |
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【问】easewind |
目前有大批使用吗 |
2013-07-31 10:27:49 |
【答】 |
去年年底才发布~~ 不过看到了不错的市场反馈 |
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【问】zhajunjun533 |
编程限制电流是通过什么代码实现的? |
2013-07-31 10:27:03 |
【答】 |
看您使用的驱动是什么~~ 我们支持很多代码指令控制 |
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