现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪
| 网友 |
问题 |
日期 |
| 【问】sizhiji |
参数曲线追踪仪配置具体配置能介绍吗？ |
2013-07-31 10:12:20 |
| 【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦！ |
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| 【问】天游 |
目前价格是多少? |
2013-07-31 10:12:15 |
| 【答】 |
看配置 |
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| 【问】gsqycx |
曲线跟踪在哪些方面会有应用？ |
2013-07-31 10:12:09 |
| 【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦！ |
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| 【问】ffj0828 |
IC内部二极管或者MOS管失效测试有对应方案吗 |
2013-07-31 10:11:45 |
| 【答】 |
可以考虑使用晶体管图示仪+ 其它设备~~ 来做 |
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| 【问】zl3191498 |
我问的可能有点问题.这种半导体图示仪是不是就是吉时利现在的4200? |
2013-07-31 10:09:35 |
| 【答】 |
不太一样~~~ 如果我们仅仅看I-V上 晶体管图示和4200 有相同的地方 尤其是在200V 1A以下的通用量程~~ 但是 更高的功率要求来看~~ 4200 就显得捉襟见肘了 |
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| 【问】zl3191498 |
我问的可能有点问题.这种半导体图示仪是不是就是吉时利现在的4200? |
2013-07-31 10:09:35 |
| 【答】 |
当然 在C-V测量上~~ 脉冲瞬态测量上 晶体管图示仪显然没有4200提供的方案全面 |
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| 【问】shaohuass |
请问如何测试MOSFET 雪崩 |
2013-07-31 10:08:41 |
| 【答】 |
后续的片子会介绍到击穿测试的例子~~ |
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| 【问】lujinjun |
能与计算机连接而截取晶体管的特性图吗？ |
2013-07-31 10:07:54 |
| 【答】 |
可以~~ 新的系统 就是由计算机上的控制软件控制 |
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| 【问】lpgoal |
是标配的各种夹具吗？ |
2013-07-31 10:07:31 |
| 【答】 |
是，我们标配夹具~~ 夹具包括标准部分 和 用户自定义部分~~ |
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| 【问】zl3191498 |
4200对半导体的功率特性进行测试吗? |
2013-07-31 10:07:00 |
| 【答】 |
您指的功率特性是？ |
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| 【问】Qncom |
ok |
2013-07-31 10:06:44 |
| 【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦！ |
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| 【问】天游 |
这适用于半导体厂商还是适用于一般的电子工厂做来料检验等? |
2013-07-31 10:06:18 |
| 【答】 |
都可以。 这两个行业也是原来TEK 370系列产品主要用户群 |
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| 【问】wumingwei |
这个主要是用来作部品测试的吗？ |
2013-07-31 10:04:31 |
| 【答】 |
确切的说 应该是元器件的测试~~ 主要是模拟的分立元器件~~ 如 二极管 三极管 IGBT MOSFET 器件等 |
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| 【问】qijia |
学习 |
2013-07-31 10:02:32 |
| 【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦！ |
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| 【问】kjcom10 |
BD |
2013-07-31 10:00:06 |
| 【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦！ |
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