高功率半导体器件测试的基础
| 网友 |
问题 |
日期 |
| 【问】kjcom10 |
需要具体型号及数量！ |
2012-06-27 11:24:48 |
| 【答】 |
需要根据被测信号来选择具体型号 |
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| 【问】kjcom10 |
关于信号地和功率地的处理，同时对于layout，也要注意其他方面，这些方面实际是我们在其他器件layout中同时需要注意的，包括layout中尽量不要做直角形走线，敏感信号线的排列，不要被其他信号线影响，不要有过多的通孔，滤波电容的位置等都需要我们注意。 |
2012-06-27 11:24:24 |
| 【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦！ |
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| 【问】kjcom10 |
功放电路设计需要考虑哪些因素的影响？ |
2012-06-27 11:23:28 |
| 【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦！ |
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| 【问】kjcom10 |
: 这些电路的应用在维护修理上，是否需要对电路要了解的很深？还是做大概的了解？ |
2012-06-27 11:22:53 |
| 【答】 |
对于测试而言，需要对测试结果有一定的预期，知道产品本身的特性参数的范围，但对测试操作过程，无需对电路了解很深，使用方便。 |
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| 【问】zhangshui0 |
专家介绍的两款仪器能自动生成I/V曲线吗？ |
2012-06-27 11:22:35 |
| 【答】 |
可以的，仪器内部自带软件，无需编程，即可获得I/V特性曲线 |
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| 【问】wlq47 |
测试参数是否是元器件厂家的事情？我们比较相信厂家的参数表，至于他的离散型，一般不太重要，对于大多数使用者一般希望有更简单的测试方法，能够满足使用就可以了 |
2012-06-27 11:16:22 |
| 【答】 |
看需求吧，质量控制严的使用的每个器件都要亲自测试 |
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| 【问】WSL123 |
高频部分和运放本身的GBW有关系，-3dB带宽=GBW/闭环增益，高频部分和CR滤波的截止频率有关。 |
2012-06-27 11:16:05 |
| 【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦！ |
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| 【问】renazan2000 |
高功率是不是意味着高功耗？ |
2012-06-27 11:15:48 |
| 【答】 |
是的 |
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| 【问】cha123 |
目前在手机应用领域，TI更多的产品是偏向于D类功放，只是由于移动设备的应用更多会考虑电池电量的瓶颈。 |
2012-06-27 11:14:24 |
| 【答】 |
这个问题暂时没有人回答呦！ |
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| 【问】sheldon685 |
散热是否需要专门设计风扇？ |
2012-06-27 11:13:21 |
| 【答】 |
没那么严重 |
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| 【问】sanjinwangli |
质检部门需要，作为器件入库检验,淄博有销售吗？价格？ |
2012-06-27 11:11:00 |
| 【答】 |
目前山东还没有我们的签约代理商，可以联系我们北京的签约代理商购买 |
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| 【问】szyouer |
可以进行高速瞬态分析吗? |
2012-06-27 11:07:03 |
| 【答】 |
可以的，我们的高功率源表内部具有快速ADC可以抓瞬态波形 |
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| 【问】gsqycx |
我们一直使用福禄克的产品，今天听了讲座觉得你们的也挺专业的。有竞争才好嘛。 |
2012-06-27 11:06:56 |
| 【答】 |
欢迎使用keithley的产品 |
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| 【问】zjjsqyg |
可能质检部门也需要，作为器件入库检验 |
2012-06-27 11:05:35 |
| 【答】 |
对的，我们有一部分木匾客户就是进料检查 |
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| 【问】szyouer |
可以满足了功率半导体器件的低漏电要求吗? |
2012-06-27 11:05:29 |
| 【答】 |
可以 |
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