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按厂商点播 > KEITHLEY

灵动创新,触感未来——如何更简便的进行材料研究和器件设计测量

时间:2013年12月19日 10:00        

简介: 1. 了解世界上第一台电容触摸屏操作的源表 2. 仪器的软硬件升级性能和特点 3. 典型应用 (太阳能电池特性,场效应晶体管测量等)...

太阳能电池表征基础——让效率测试更简单

时间:2013年11月20日 10:00        

简介: 参加此次研讨会将会学到: 测量电池的关键参数 太阳能电池效率的I-V测量 理解效率损失的来源 太阳能电池材料研究 – 使用I-V和C-V测量的先进材料技术 适合参会人员: 如果你是工程师,物理学家或者是硅太阳能电池的研发与生产者,您将从此次的研讨会中学习到非常多的市场与科研技术信息。 ...

成功实现低电平直流测量的技巧

时间:2013年10月30日 10:00        

简介: 当今的工程师和研究人员对低电平直流测试的需求越来越多。在我们新的研讨会中您将学到一些成功实现低电平直流测量的技巧。这些技巧会让您的测试更加流畅。 通过参加此次会议您会学到: -定义“低电平测量” -识别需要低电平测量的熟悉的应用场景 -识别影响结果和讨论解决方案的常见挑战 目标听众: 本期研讨会适于进行低电平测试的初学者...

什么是源表?在应用中如何使用正确的源表?

时间:2013年09月27日 10:00        

简介: 您是否正确的选择和使用了源表呢或者还在考虑是不是应该选择源表作为您的测量工具呢?这场讲座将为您解答这些疑虑。我们的应用工程师将为您解释SMU的基本工作原理,并会介绍在源表选型过程中各款源表的特征与性能,对比不同型号的源表在现实应用中的功能和表现。 从这次在线研讨会中您将学到在不同领域如何使用源表: -实现更完善的材料特性分析 -推动测试系统提高效率 -增强综合实验的功能性 目标听众: ...

现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪

时间:2013年07月31日 10:00        

简介: 本期在线研讨会“现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪”介绍了曲线追踪仪及其在测试功率半导体器件方面的作用。还介绍了当前市场对功率器件的需求以及现代器件如何迫使传统曲线追踪仪超越其测量极限。研讨会讨论了如何用SMU取代传统曲线追踪仪而且为什么SMU是测试当今器件的最佳仪器。最后,研讨会将讨论如何将数台SMU搭建成为现代参数曲线追踪仪并实现I-V测量和高压C-V测量。 通过参加此研讨会,您...

用4线法分析材料电阻率和测试结构

时间:2013年06月27日 10:00        

简介: 电阻率是材料的基本特性,也属于常规电气测量。但是,一些应用要求采用4线方法。而且,所用的测量方法取决于材料电阻大小、样品厚度和样品形状与大小等各种因素。本期在线研讨会详细说明了能获得最佳测量结果的各种4线方法和测量技术。 参加人员将学习4线电阻率测量基础,包括体电阻率和表面电阻。还将介绍导体电阻率的测量、半导体晶圆的四点共线探测、范德堡测试结构和程序、小功率测量,纳米线电阻率和本征半导体材料测量...

了解TFT LCD和OLED显示器的直流特性

时间:2013年05月09日 10:00        

简介: 本期在线研讨会概述了测量现代TFT LCD和OLED显示器直流特性所需的测试方法和测量设备。我们将讨论这些器件的独特设计带来的专有测量挑战以及如何克服这些挑战。我们还将对处于现代显示器核心位置的薄膜晶体管关键性能参数,例如关断泄露、亚域摇摆和其它参数,介绍相关测量方法。 研讨会目标 通过参加本期研讨会,您将了解以下内容: ·TFT LCD和OLED的独特测量要求 ·进行关键直流电气测量...

了解电性量测基本原理

时间:2013年03月26日 10:00        

简介: 许多人需要进行电性量测,但未必是该领域的专家。无数的应用都需要电流、电压、电阻和温度等量测,甚至时常需实现不容易达到的量测品质水准。无论是选择测试设备、设计测试系统,或只是想使用现有设备进行测量,您需要了解一些基本的检查要项,以确保您的最终量测结果能符合要求。...

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