ARM
Avago
AVNET
ADI
ADVANTECH
Arrow
Achronix
adi_macnica
adi_digikey
Belling
Comlent
COMSOL
电子控制直播
东方中科
电子产品世界
EEPW-2020暖心周-11月30日
EEPW-2020暖心周-12月1日
EEPW-2020暖心周-12月2日
Emdoor
EVOC
EEPW
EDOM
Farsight
Fluke
GWINSTEK
ITT
Intersil
Intel
ITECH
Infineon
Imagination
KEITHLEY
Keysight
Keysight World
Keysight-物联网沙龙
LeCroy
Lattice
Linaro
莱迪斯
Mediatek
Maxim
MXT
Mouser
Macnica Cytech
Mouser (TOSHIBA)
NXP
NI
Nichicon
Nexperia
恩智浦
ON Semiconductor
Panasonic
PTC
Pico
Pickering
Qorvo
Renesas
RIGOL
R&S
ROHM
Rogers
Serial
ST
Silicon Labs Introduction
Tektronix
TDK
Teledyne e2v
vicor
V3学院
Wieland
WPG
世平集团
Xilinx
YOSUN
ZLG
蔡司

蔡司X射线技术应对电子领域隐藏性缺陷及结构检测难题
时间:2020年12月23日 14:00
简介: 汽车、航空航天、医疗技术、电子、消费品等各行业皆有其制造流程,往往会出现肉眼无法察觉的各类潜在缺陷。蔡司X射线检测技术提供了全新的洞察力,从内部缺陷检测、内部结构尺寸测量,到材料结构分析。 在质量及过程控制方面,蔡司工业CT不需破坏工件且仅需一次扫描,您可以快速无损地采集、分析、测量及检测工件内部结构。 对于需要2微米甚至更小的分辨率的BGA(焊球阵列封装)和CSP (芯片级封装) 的检测...
共1条 1/1 1 |