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现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪

时间:2013年07月31日 10:00        

简介: 本期在线研讨会“现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪”介绍了曲线追踪仪及其在测试功率半导体器件方面的作用。还介绍了当前市场对功率器件的需求以及现代器件如何迫使传统曲线追踪仪超越其测量极限。研讨会讨论了如何用SMU取代传统曲线追踪仪而且为什么SMU是测试当今器件的最佳仪器。最后,研讨会将讨论如何将数台SMU搭建成为现代参数曲线追踪仪并实现I-V测量和高压C-V测量。 通过参加此研讨会,您...

MDO 混合域分析仪在RFID 测试中的应用

时间:2013年05月30日 10:00        

简介: 泰克公司开创跨域分析新时代 · MDO4000 混合域分析仪概述 · MDO4000 混合域分析仪的特色 · MDO4000 开创跨域分析新时代 RFID 与 RFID 测试 · RFID 定义及标准 · RFID 信号特点 · RFID 测试挑战 · RFID 信号测试 MDO4000在 RFID 测试中的应...

创新电源分析与测试方法

时间:2013年03月14日 10:00        

简介: 电源产品随着电子技术的发展,普遍采用开关技术或者逆变技术,对于采用这些技术的产品开发会遇到一些测量上的问题,制约着工程师对于产品的掌握,泰克公司提供的测试仪器能有效帮助工程师解决这些问题,如安全浮地、延迟校准、探头的选择以及最新的总线分析等。...

高功率半导体器件测试的要点、技巧和陷阱

时间:2012年08月15日 10:00        

简介: 虽然功率半导体器件测试曾被认为是一个专业领域,但现在许多研究人员、大学和公司正在对此类器件进行测量。工程师和科学家在从小信号器件测试转移到功率半导体器件测试时将面临新的挑战。本期研讨会将介绍一些常见的挑战并回顾避开这些挑战的方法。 参加研讨会的网友将会了解以下内容: 1.如何检测并抑制器件振荡; 2.如何配置仪器并实现100A高脉冲电流的准确测量; 3.如何利用...

超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱

时间:2012年05月29日 10:00        

简介: 本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果。...

什么是源测量单元(SMU)仪器,怎样为您的应用选择合适的源测量单元(SMU)仪器 ?

时间:2012年03月27日 10:00        

简介: 源测量单元(SMU)可以提高生产效率,完成更全面的特性测试,并提高测试系统整体性能。然而,为了真正优化测试,在为应用选择合适的源测量单元(SMU)时,必须综合考虑“说明书中的性能指标”。 此次在线研讨会将介绍源测量单元(SMU)的工作原理,说明选择源测量单元(SMU)仪器时需要考虑的关键因素及性能,以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...

混合域示波器在数字射频系统设计与验证中的应用

时间:2011年12月15日 10:00        

简介: 混合域示波器在数字射频系统设计与验证中的应用演讲大纲: 1. zigbee技术特点 2. MDO混合域示波器及其功能特点 3. Zigbee系统的时域频域联合调试 4. 模拟电池耗尽状态对射频电路的影响 5. 数字总线控制与射频电路功能分析 6. 数字射频系统中的噪声来源与杂散分析 7. 总结 了解更多关于泰克 MDO,请点击http://www1.tek.com/zh/sco...

非易失存储器-特性分析与测量技术

时间:2011年12月08日 10:00        

简介: 寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器(NVM)的替代技术,例如正在进行的相变存储器(PCM/PRAM)、铁电存储器(FeRAM)、磁阻存储器(MRAM)和阻性存储器(ReRAM)。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多,但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析,例如瞬态开关性能、耐力,并需要动态电流测量。 非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLA...