东方集成IC芯片测试解决方案在线研讨会

时间：2016年07月21日 10:00        

简介： 在进行移动通信设备，或电池供电设备的IC设计验证过程中，功耗的测量和验证是非常重要的环节。降低芯片的直流功耗，有助于优化整个产品的耗电性能，提高产品的用户体验，增加产品在市场的竞争力。为此，各个芯片厂家都竭尽全力的改善芯片的功耗特性，而如何精确测量芯片的直流功耗，是这一切的前提。针对这些目标需求，东方集成联合泰克科技推出了IC芯片测试解决方案。在泰克-吉时利的测试方案中，高采样率，高精度的电流测试...