现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪
时间：2013年07月31日 10:00
简介： 本期在线研讨会“现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪”介绍了曲线追踪仪及其在测试功率半导体器件方面的作用。还介绍了当前市场对功率器件的需求以及现代器件如何迫使传统曲线追踪仪超越其测量极限。研讨会讨论了如何用SMU取代传统曲线追踪仪而且为什么SMU是测试当今器件的最佳仪器。最后，研讨会将讨论如何将数台SMU搭建成为现代参数曲线追踪仪并实现I-V测量和高压C-V测量。 通过参加此研讨会，您...
什么是源测量单元（SMU）仪器，怎样为您的应用选择合适的源测量单元（SMU）仪器 ?
时间：2012年03月27日 10:00
简介： 源测量单元（SMU）可以提高生产效率，完成更全面的特性测试，并提高测试系统整体性能。然而，为了真正优化测试，在为应用选择合适的源测量单元（SMU）时，必须综合考虑“说明书中的性能指标”。 此次在线研讨会将介绍源测量单元（SMU）的工作原理，说明选择源测量单元（SMU）仪器时需要考虑的关键因素及性能，以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...
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