松下电器PhotoMOS产品及其应用案例介绍会
时间：2012年05月15日 10:00
简介： 松下电器的PhotoMOS产品是指在输入元件中采用了LED,输出元件中采用了MOSFET的光电耦合器。由于具备体积小、寿命长、可靠性高、耗电量少且无声等优点，已被广泛应用于各个领域。此次在线研讨会主要通过PhotoMOS的原理，销售要点和样本查看方法三方面来介绍松下电器PhotoMOS产品。此外还详尽介绍了松下电器PhotoMOS产品在BMS和DCS的成功应用案例。此次研讨会内容具有极强的实用性和...
SFF 8431 SFP+ PHY 测试方案
时间：2011年12月22日 10:00
简介： SFF 8431 SFP+是在2009年编写的最佳定义标准, 适用于 8.5GbE和11.1GbE数据通信及存储区域网(SAN)应用的下一代可热插拔、小型、串行到串行多速率光学收发机。SFP+技术把时钟单元和数据恢复单元移出模块，移到线路卡上，从而大大缩小了尺寸，在一个机架中实现了每端口低功率及高端口密度。本讲座将为大家介绍SRP+的产品测试及面临的系列挑战,内容涵盖如下： 泰克以太网解决方案 ...
混合域示波器在数字射频系统设计与验证中的应用
时间：2011年12月15日 10:00
简介： 混合域示波器在数字射频系统设计与验证中的应用演讲大纲： 1. zigbee技术特点 2. MDO混合域示波器及其功能特点 3. Zigbee系统的时域频域联合调试 4. 模拟电池耗尽状态对射频电路的影响 5. 数字总线控制与射频电路功能分析 6. 数字射频系统中的噪声来源与杂散分析 7. 总结 了解更多关于泰克 MDO,请点击http://www1.tek.com/zh/sco...
最新的高速串行系统测试技术及应用——基于BERTScope的整体解决方案
时间：2010年12月15日 10:00
简介： 在数字系统数据传输率日趋加快的背景下，以往的许多设计、测试理念已经变得不再适用，一致性测试和调试变得尤其的突出。整个高速系统划分为三大子系统：Tx、Channal和Rx。在Tx测试中，需要越来越高速的测量设备，带宽性能逐渐成了测试的瓶颈；而单纯的Tx一致性测试还不足以确保整个系统的BER要求。Rx测试（Rx容限测试），在以往相对低速的系统测试中是没有考虑过的，如今Rx中集成了更多的复杂功能，如Eq...
基于软件定制工业与嵌入式测控系统
时间：2010年12月09日 10:00
简介： 构建可靠的工业与嵌入式测控系统，过程往往相当复杂。针对千变万化的待测信号和被控对象，往往需要充分理解信号的特点、定制不同的测量和控制策略，甚至进行自定义的硬件电路的开发，经过漫长的调试过程。在这种情况下，工程师不得不在系统性能与项目开发时间中做出选择。 在本讲座中，NI工程师将为您介绍如何利用LabVIEW图形化开发平台和FPGA技术，基于软件来定制您的工业与嵌入式测控系统，在确保性能的情...
USB3.0端到端物理层测试技术研讨会
时间：2010年04月08日 10:00
简介： SuperSpeed USB，即USB3.0，是下一代的USB接口标准，速度由USB2.0的480Mbps提升到了5Gbps，以满足当前与未来高清视频和动辄GByte的数据传输的需求，在2008年11月，HP、Intel、微软、NEC、ST-NXP、TI联合起来正式发布了USB3.0的V1.0规范。美国力科作为串行数据分析仪器的领导者，于2009年4月发布了USB3.0的物理层测试的完整解决方案，...
亿道EDA协同设计系统技术研讨会
时间：2010年03月31日 10:00
简介： 您想知道如何将公司物料系统的相关信息实时同步到PCB设计工具中来吗？您想知道如何构建公司级的硬件研发平台吗？您想知道如何管理公司的优选库吗？您想知道如何在PCB设计工具中直接导出包含物料编码及相关信息的BOM清单吗？您想知道如何在PCB设计工具中直接关联器件Datasheet文档吗？ 通过参加本次在线研讨会，您的问题将一一得到解答。对于电子研发型企业来说，在涉及利用现有元件的电子产品开发中，...
具有高速USB2.0 OTG接口的恩智浦LPC31xx系列ARM9微控制器(本培训内容来自于：Global Sources)
时间：2009年04月16日 10:00
简介： 恩智浦半导体拥有业界最丰富的ARM系列微控制器产品。作为ARM7内嵌闪存微控制器方面的引领者，恩智浦同时也拥有基于ARM9、Cortex等多种ARM内核的微控制器产品。本次研讨会将介绍恩智浦半导体最新推出的具有高速USB2.0 OTG接口及业界最低成本的ARM9微控制器 - LPC313x及LPC315x系列产品。LPC313x系列产品能够给嵌入式开发人员带来更高性能、更低成本和功耗、更灵活的US...