什么是源表？在应用中如何使用正确的源表？
时间：2013年09月27日 10:00
简介： 您是否正确的选择和使用了源表呢或者还在考虑是不是应该选择源表作为您的测量工具呢？这场讲座将为您解答这些疑虑。我们的应用工程师将为您解释SMU的基本工作原理，并会介绍在源表选型过程中各款源表的特征与性能，对比不同型号的源表在现实应用中的功能和表现。 从这次在线研讨会中您将学到在不同领域如何使用源表： -实现更完善的材料特性分析 -推动测试系统提高效率 -增强综合实验的功能性 目标听众： ...
用4线法分析材料电阻率和测试结构
时间：2013年06月27日 10:00
简介： 电阻率是材料的基本特性，也属于常规电气测量。但是，一些应用要求采用4线方法。而且，所用的测量方法取决于材料电阻大小、样品厚度和样品形状与大小等各种因素。本期在线研讨会详细说明了能获得最佳测量结果的各种4线方法和测量技术。 参加人员将学习4线电阻率测量基础，包括体电阻率和表面电阻。还将介绍导体电阻率的测量、半导体晶圆的四点共线探测、范德堡测试结构和程序、小功率测量，纳米线电阻率和本征半导体材料测量...
了解TFT LCD和OLED显示器的直流特性
时间：2013年05月09日 10:00
简介： 本期在线研讨会概述了测量现代TFT LCD和OLED显示器直流特性所需的测试方法和测量设备。我们将讨论这些器件的独特设计带来的专有测量挑战以及如何克服这些挑战。我们还将对处于现代显示器核心位置的薄膜晶体管关键性能参数，例如关断泄露、亚域摇摆和其它参数，介绍相关测量方法。 研讨会目标 通过参加本期研讨会，您将了解以下内容： ·TFT LCD和OLED的独特测量要求 ·进行关键直流电气测量...
| 共3条 1/1 1 |