艾睿红外热像仪助力电子电路设计开启温度可视化监测视界
时间：2023年06月28日 10:00
简介： 电子电路设计测试阶段，科研人员需要对电路板中的电子元器件进行温度监测，观察元器件的温度负载情况，以保证电路板研发工作的顺利进行。在测试过程中，需要模拟电路板的实际工作环境，观察电子元器件从上电至稳定这一过程中的温度状态。电路板中的电子元器件精细程度较高，传统的接触式测温设备工作繁杂，不能满足科研人员的测试要求。 艾睿光电，作为红外热成像领军者，为广大从事电子电路开发的工程师提供了可视化温度监...
看红外热像仪如何提升热分析效率
时间：2016年07月12日 10:00
简介： 在本次技术交流会中，您可以看到热像仪的小目标检测能力、快速反应能力、超远距离检测能力、细微温差分辨能力、高精度温度测量能力、温度数据瞬时大流量在线分析能力等诸多超级能力，帮助您获得更准、更多、更全面的温度信息，解决您在研究领域中的问题，使您的工作更加简便。...
使用示波器进行可靠的极限温度测试
时间：2016年04月28日 10:00
简介： 当前的大多数电子产品都必须在各种环境条件下进行测试，极限温度条件(极热和极冷)也在其中。然而，大部分测试仪器、无源和有源探头只能在 0 至 55 °C 温度范围内工作。极限温度测试经常要求工程师在 -55 至 +150 °C 的温度范围内使用探测工具，这已经超过了探头的温度技术指标，因此环境测试工程师不能在环境舱内使用探头去测试被测器件。在对电子产品执行环境测试时，测试工程师必须确保他们使用的探测...
如何用好红外热像仪，免费申领《红外热像实用宝典》
时间：2015年10月22日 10:00
简介： 如何把温度测得更准确？对于特殊现场和分析需求有哪些解决方案呢？对连续温度变化的目标该如何进行分析？此次研讨会，福禄克汇集客户的常见问题，分享红外热像仪实用操作技巧，让您真正用好热像仪。 所有参会者还可免费获赠福禄克精心编制的《红外热像实用宝典》，涵盖如下内容：如何选择适合的对焦方式；适当虚化前景，防止遮挡；准确测温 热像仪的开机预热时间；避免阳光的反射干扰；避免阳光的直射干扰；来自天空的陷阱...
FPGA入门实验篇之温度传感器（LM75A）篇
时间：2014年08月14日 20:30
简介： 此系列教程主要分为FPGA学习方法篇、FPGA基础篇、FPGA实例篇以及FPGA设计技巧篇，其中FPGA基础篇又包括FPGA基础知识篇、硬件描述语言篇、FPGA开发工具篇、数字电路基础篇以及硬件电路篇；FPGA实例篇包括FPGA入门实验篇、FPGA进阶实验篇、IP核使用篇以及FPGA综合实验篇。视频共计54讲。 FPGA实例篇：FPGA的学习只有通过大量的操作与实践才能很好并快速的掌握，实例...
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