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按关键词点播 > 电阻率测量

用4线法分析材料电阻率和测试结构

时间:2013年06月27日 10:00        

简介: 电阻率是材料的基本特性,也属于常规电气测量。但是,一些应用要求采用4线方法。而且,所用的测量方法取决于材料电阻大小、样品厚度和样品形状与大小等各种因素。本期在线研讨会详细说明了能获得最佳测量结果的各种4线方法和测量技术。 参加人员将学习4线电阻率测量基础,包括体电阻率和表面电阻。还将介绍导体电阻率的测量、半导体晶圆的四点共线探测、范德堡测试结构和程序、小功率测量,纳米线电阻率和本征半导体材料测量...