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按分类点播 > 测试测量

LabVIEW 2013新特性博览及LabVIEW编程开发技巧

时间:2013年09月24日 10:00        

简介: 随着物联网、智能系统、大数据等前沿技术的发展,第四代工业革命的浪潮即将来临。其实核心是从计算、控制到通信无所不含的信息物理系统。而图形化系统设计是基于平台级的设计,可以帮助您加速任何测试测量和控制系统的开发。LabVIEW作为系统级设计软件,是图形化系统设计平台的核心。 LabVIEW开发环境集成了工程师和科学家快速构建各种应用所需的所有工具,旨在帮助工程师和科学家解决问题、提高生产力和不断创新。...

泰克科技的汽车电子测试方案

时间:2013年08月29日 10:00        

简介: 汽车电子的发展已经成为汽车行业的重要创新部分,新能源汽车也成为重要的发展方向。泰克科技是拥有60多年的高科技测试测量技术的创新供应商之一,在未来汽车电子发展趋势的安全、舒适、节能、环保以及智能化和信息化方面给工程师提供更加可靠、高效的测试工具及方案。 汽车电子/电动汽车测试测量技术 – 网络(总线)测试 – 动力系统测试 – 车身...

现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪

时间:2013年07月31日 10:00        

简介: 本期在线研讨会“现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪”介绍了曲线追踪仪及其在测试功率半导体器件方面的作用。还介绍了当前市场对功率器件的需求以及现代器件如何迫使传统曲线追踪仪超越其测量极限。研讨会讨论了如何用SMU取代传统曲线追踪仪而且为什么SMU是测试当今器件的最佳仪器。最后,研讨会将讨论如何将数台SMU搭建成为现代参数曲线追踪仪并实现I-V测量和高压C-V测量。 通过参加此研讨会,您...

从物理层到协议层、从一致性测试到故障排除,泰克全新PCIE解决方案帮助您化繁为简,为您提供全方位解决方案

时间:2013年07月30日 10:00        

简介: PCI Express从问世到今天已经走过十个年头,从第一代2.5GT/S到今天的第三代系统,速率已经高达8GT/s,而第四代芯片也已经进入开发阶段,速率更是高达16GT/s。PCI Express在PC平台中扮演着相当重要的角色,主要作为CPU与内存及其它高速接口的桥梁使用,并作为扩展插槽广泛应用于服务器和工用PC (IPC)中。 泰克从PCI Express开发初期就积极参与规范制订及一致性...

基于恩智浦LPC系列MCU的WMC红外遥控接收系统方案

时间:2013年07月25日 10:00        

简介: 介绍了由LPC1343和LPC812组成的一套针对WMC的红外遥控接收设备方案。LPC1343是一款基于Cortex-M3内核的MCU,主频可达72MHz的MCU,片上自带全速的USB设备控制器,便于与Windows进行数据通讯。LPC812是一款基于Cortex-M0+内核的MCU,其先进的SCT模块可以灵活的输出驱动红外发射的所需要的PWM信号,而且其超低的待机功耗特别适用于电池供电的系统中。...

选择PXI平台时的7点考虑

时间:2013年07月04日 10:00        

简介: 自从1997年NI提出PXI标准以来,PXI模块化仪器平台就不断推陈出新。在指标参数可以与传统仪器相媲美的同时,基于PXI平台的模块化仪器还可以完成传统仪器所无法完成的高速同步和定时等功能,尤其适合自动化测试应用领域。到现在,PXI平台已经有60多家厂商提供2000多种模块,以适应不同的自动化测试测量应用的需求。在种类繁多的模块当中,我们选择时应该有哪些考虑因素?本次研讨会将和您一起做深入的探讨。...

用4线法分析材料电阻率和测试结构

时间:2013年06月27日 10:00        

简介: 电阻率是材料的基本特性,也属于常规电气测量。但是,一些应用要求采用4线方法。而且,所用的测量方法取决于材料电阻大小、样品厚度和样品形状与大小等各种因素。本期在线研讨会详细说明了能获得最佳测量结果的各种4线方法和测量技术。 参加人员将学习4线电阻率测量基础,包括体电阻率和表面电阻。还将介绍导体电阻率的测量、半导体晶圆的四点共线探测、范德堡测试结构和程序、小功率测量,纳米线电阻率和本征半导体材料测量...

MDO 混合域分析仪在RFID 测试中的应用

时间:2013年05月30日 10:00        

简介: 泰克公司开创跨域分析新时代 · MDO4000 混合域分析仪概述 · MDO4000 混合域分析仪的特色 · MDO4000 开创跨域分析新时代 RFID 与 RFID 测试 · RFID 定义及标准 · RFID 信号特点 · RFID 测试挑战 · RFID 信号测试 MDO4000在 RFID 测试中的应...