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超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱

时间:2012年05月29日 10:00        

简介: 本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果。...

电性参数测试的基本知识

时间:2011年10月25日 10:00        

简介: 更好的理解电性参数测试的基本知识,包括在测试电压,电流,温度,电阻等电参数的时候,怎样更准确的测试我们所需要的参数,理解准确度,灵敏度,分辨率等常见的测试仪器的规格指标,以便用户在构建自己的测试系统过程中,如何更好的利用现有的仪器和选择对自己来说性价比最好的测试仪器设备。...

如何选择高精度万用表

时间:2011年03月29日 10:00        

简介: 高精度数字万用表是基本的电参数测量仪器,是从事精密设备研发和生产不可或缺的工具。目前数字万用表向着高精度、高稳定性、多测量、多分析、可程控的方向发展,市场上也是群雄逐鹿,产品种类多样,乱花渐欲迷人眼,作为电子工程师,弄清高精度万用表能帮助我们做什么,如何选择适合自己的开发工具,如何充分利用万用表功能提高测试分析效率,成为无法回避的问题。本次研讨会以DM3068高精度万用表为解剖对象,从高精度万用表...

信号完整性分析与S参数测量专题报告

时间:2010年11月23日 10:00        

简介: 随着半导体工艺的不断发展,数字信号的速率也愈来愈高,Gbps以上的高速信号已经随处可见。面对高速设计的新领域,硬件设计工程师们需要改变传统的设计理念,他们需要以更加超前的思维去思考自己将要设计的信号的质量,或许在制定产品设计方案的时候就需要进行调研;需要在设计过程的每一个环节去思考信号质量问题,如方案设计环节,原理图设计环境,PCB设计环节,测试验证环节等等;需要考虑到系统中的每一个构成成分可能给...