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超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱

时间: 2012年05月29日 10:00        

简介:本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果。

关键词:keithley  半导体特性分析  I-V特性  脉冲I-V  瞬态I-V  I-V测试  极限参数  晶体管性  

演讲嘉宾

演讲专家:
贾李琛
专家职务:
应用工程师
专家简介:
于2011年加入吉时利仪器公司,现为泰克测试测量产品家族的一员,担任上海办事处现场应用工程师。他毕业于上海复旦大学电子信息科学与工程学院,有多年半导体测试领域的现场应用经验。

答疑嘉宾

答疑嘉宾:
张卫华
专家职务:
资深应用工程师
专家简介:
KEITHLEY资深应用工程师,精密电子工业市场开发经理
丰富的测试测量经验,在KEITHLEY工作超过六年。精通软硬件的设计开发,曾设计过很多工业测试系统。

奖项设置

奖品说明:
凡报名且全程参加在线研讨会的听众,会后将每人得到EEPW提供的10元手机充值卡。

关于公司

吉时利仪器公司为全球专业的电子制造商提供高准确度的用于产品测试、过程监控、产品发展和研究的各种测量解决方案。我公司大约拥有 500 多种产品,分别用于:源、测量、连接、控制或 DC 通信和光电信号。我们可以提供完整的包括仪器和主机插板的解决方案,既可作为系统的一个组件,也能作为独立的解决方案。我们客户是制造、产品更新和研究领域的工程师、技术人员和科学家。