高性价比、高效开关测试系统技术探讨

时间：2011年09月08日 10:00        

简介： 保持测试系统具有高性价比和高效率是每个测试工程师追求的目标。当系统中包括不止一个待测器件(DUT)或测试点时，很好的切换待测体连接到源端或测试仪器端,对于整体的测试系统是非常重要的。设计满足系统需求的开关需要了解待测器件(DUT)、待测器件(DUT)数量、信号大小、所需速度以及传输信号的设备。本研讨会将介绍开关基本原理、开关种类（继电器、晶体管等)以及开关系统种类(多路复用器、开关阵列等)。...