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高性价比、高效开关测试系统技术探讨

时间:2011年09月08日 10:00        

简介:保持测试系统具有高性价比和高效率是每个测试工程师追求的目标。当系统中包括不止一个待测器件(DUT)或测试点时,很好的切换待测体连接到源端或测试仪器端,对于整体的测试系统是非常重要的。设计满足系统需求的开关需要了解待测器件(DUT)、待测器件(DUT)数量、信号大小、所需速度以及传输信号的设备。本研讨会将介绍开关基本原理、开关种类(继电器、晶体管等)以及开关系统种类(多路复用器、开关阵列等)。

关键词:keithley  开关测试  继电器  晶体管  多路复用器  开关阵列  电流源表  多点测试  

演讲嘉宾

演讲嘉宾:
张卫华
嘉宾职务:
资深应用工程师
嘉宾简介:
KEITHLEY资深应用工程师,精密电子工业市场开发经理
丰富的测试测量经验,在KEITHLEY工作超过六年。精通软硬件的设计开发,曾设计过很多工业测试系统。

答疑嘉宾

答疑嘉宾:
张卫华
嘉宾职务:
资深应用工程师
嘉宾简介:
KEITHLEY资深应用工程师,精密电子工业市场开发经理
丰富的测试测量经验,在KEITHLEY工作超过六年。精通软硬件的设计开发,曾设计过很多工业测试系统。

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吉时利仪器公司为全球专业的电子制造商提供高准确度的用于产品测试、过程监控、产品发展和研究的各种测量解决方案。我公司大约拥有 500 多种产品,分别用于:源、测量、连接、控制或 DC 通信和光电信号。我们可以提供完整的包括仪器和主机插板的解决方案,既可作为系统的一个组件,也能作为独立的解决方案。我们客户是制造、产品更新和研究领域的工程师、技术人员和科学家。