如何为高亮度LED提供准确可靠的测试
时间：2011年05月31日 10:00
简介： 随着LED逐渐被广泛应用到各个领域,特别是高亮度的LED应用的高速发展和普遍使用,象汽车,照明,路灯等等.LED的电性测试也变的多样性,提出了更高的测试要求并更具挑战性,要很好的解决这些测试问题给LED提供准确可靠的测试结果,必须要了解问题产生的根源,KEITHLEY针对高亮度LED一些特别的测试,提供相应的解决方案来解决高亮度LED测试的以下问题: 1. LED自发热效应以及如何避免自发热效应...
如何选择高精度万用表
时间：2011年03月29日 10:00
简介： 高精度数字万用表是基本的电参数测量仪器，是从事精密设备研发和生产不可或缺的工具。目前数字万用表向着高精度、高稳定性、多测量、多分析、可程控的方向发展，市场上也是群雄逐鹿，产品种类多样，乱花渐欲迷人眼，作为电子工程师，弄清高精度万用表能帮助我们做什么，如何选择适合自己的开发工具，如何充分利用万用表功能提高测试分析效率，成为无法回避的问题。本次研讨会以DM3068高精度万用表为解剖对象，从高精度万用表...
最新的高速串行系统测试技术及应用——基于BERTScope的整体解决方案
时间：2010年12月15日 10:00
简介： 在数字系统数据传输率日趋加快的背景下，以往的许多设计、测试理念已经变得不再适用，一致性测试和调试变得尤其的突出。整个高速系统划分为三大子系统：Tx、Channal和Rx。在Tx测试中，需要越来越高速的测量设备，带宽性能逐渐成了测试的瓶颈；而单纯的Tx一致性测试还不足以确保整个系统的BER要求。Rx测试（Rx容限测试），在以往相对低速的系统测试中是没有考虑过的，如今Rx中集成了更多的复杂功能，如Eq...
基于软件定制工业与嵌入式测控系统
时间：2010年12月09日 10:00
简介： 构建可靠的工业与嵌入式测控系统，过程往往相当复杂。针对千变万化的待测信号和被控对象，往往需要充分理解信号的特点、定制不同的测量和控制策略，甚至进行自定义的硬件电路的开发，经过漫长的调试过程。在这种情况下，工程师不得不在系统性能与项目开发时间中做出选择。 在本讲座中，NI工程师将为您介绍如何利用LabVIEW图形化开发平台和FPGA技术，基于软件来定制您的工业与嵌入式测控系统，在确保性能的情...
信号完整性分析与S参数测量专题报告
时间：2010年11月23日 10:00
简介： 随着半导体工艺的不断发展，数字信号的速率也愈来愈高，Gbps以上的高速信号已经随处可见。面对高速设计的新领域，硬件设计工程师们需要改变传统的设计理念，他们需要以更加超前的思维去思考自己将要设计的信号的质量，或许在制定产品设计方案的时候就需要进行调研；需要在设计过程的每一个环节去思考信号质量问题，如方案设计环节，原理图设计环境，PCB设计环节，测试验证环节等等；需要考虑到系统中的每一个构成成分可能给...
USB3.0端到端物理层测试技术研讨会
时间：2010年04月08日 10:00
简介： SuperSpeed USB，即USB3.0，是下一代的USB接口标准，速度由USB2.0的480Mbps提升到了5Gbps，以满足当前与未来高清视频和动辄GByte的数据传输的需求，在2008年11月，HP、Intel、微软、NEC、ST-NXP、TI联合起来正式发布了USB3.0的V1.0规范。美国力科作为串行数据分析仪器的领导者，于2009年4月发布了USB3.0的物理层测试的完整解决方案，...