了解TFT LCD和OLED显示器的直流特性
时间：2013年05月09日 10:00
简介： 本期在线研讨会概述了测量现代TFT LCD和OLED显示器直流特性所需的测试方法和测量设备。我们将讨论这些器件的独特设计带来的专有测量挑战以及如何克服这些挑战。我们还将对处于现代显示器核心位置的薄膜晶体管关键性能参数，例如关断泄露、亚域摇摆和其它参数，介绍相关测量方法。 研讨会目标 通过参加本期研讨会，您将了解以下内容： ·TFT LCD和OLED的独特测量要求 ·进行关键直流电气测量...
了解电性量测基本原理
时间：2013年03月26日 10:00
简介： 许多人需要进行电性量测，但未必是该领域的专家。无数的应用都需要电流、电压、电阻和温度等量测，甚至时常需实现不容易达到的量测品质水准。无论是选择测试设备、设计测试系统，或只是想使用现有设备进行测量，您需要了解一些基本的检查要项，以确保您的最终量测结果能符合要求。...
创新电源分析与测试方法
时间：2013年03月14日 10:00
简介： 电源产品随着电子技术的发展，普遍采用开关技术或者逆变技术，对于采用这些技术的产品开发会遇到一些测量上的问题，制约着工程师对于产品的掌握，泰克公司提供的测试仪器能有效帮助工程师解决这些问题，如安全浮地、延迟校准、探头的选择以及最新的总线分析等。...
NI 图形化系统设计加速嵌入式控制与监测系统开发
时间：2012年12月27日 10:00
简介： NI为世界各地的工程师和科学家从设计、原型到发布嵌入式控制与监测系统带来了新的变革。LabVIEW软件和NI 可重配置I/O (RIO)硬件为设计团队提供了一个卓越的设计方法，以便在不需要自定制设计的情况下更快地完成要求苛刻的嵌入式控制与监测任务。NI嵌入式控制与监测系统设计工具是NI图形化系统设计平台的核心组成部分。利用图像化系统设计方法， 结合高效的编程软件对 NI RIO 可重配置硬件进行编...
高功率半导体器件测试的要点、技巧和陷阱
时间：2012年08月15日 10:00
简介： 虽然功率半导体器件测试曾被认为是一个专业领域，但现在许多研究人员、大学和公司正在对此类器件进行测量。工程师和科学家在从小信号器件测试转移到功率半导体器件测试时将面临新的挑战。本期研讨会将介绍一些常见的挑战并回顾避开这些挑战的方法。 参加研讨会的网友将会了解以下内容： 1.如何检测并抑制器件振荡； 2.如何配置仪器并实现100A高脉冲电流的准确测量； 3.如何利用...
超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱
时间：2012年05月29日 10:00
简介： 本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果。...
什么是源测量单元（SMU）仪器，怎样为您的应用选择合适的源测量单元（SMU）仪器 ?
时间：2012年03月27日 10:00
简介： 源测量单元（SMU）可以提高生产效率，完成更全面的特性测试，并提高测试系统整体性能。然而，为了真正优化测试，在为应用选择合适的源测量单元（SMU）时，必须综合考虑“说明书中的性能指标”。 此次在线研讨会将介绍源测量单元（SMU）的工作原理，说明选择源测量单元（SMU）仪器时需要考虑的关键因素及性能，以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...
混合域示波器在数字射频系统设计与验证中的应用
时间：2011年12月15日 10:00
简介： 混合域示波器在数字射频系统设计与验证中的应用演讲大纲： 1. zigbee技术特点 2. MDO混合域示波器及其功能特点 3. Zigbee系统的时域频域联合调试 4. 模拟电池耗尽状态对射频电路的影响 5. 数字总线控制与射频电路功能分析 6. 数字射频系统中的噪声来源与杂散分析 7. 总结 了解更多关于泰克 MDO,请点击http://www1.tek.com/zh/sco...