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高功率半导体器件测试的基础

时间: 2012年06月27日 10:00        

简介:近年来,为满足更高效率、更高功率最终产品的要求,对开发功率半导体器件的兴趣骤增。为了提高效率,研究人员把精力集中在改善某些关键器件参数,而且准确测试这些参数才能不断改进器件设计。本期研讨会简要概述了功率器件并考虑了在这些器件研发增长背后的动力,这些器件参数如何影响最终产品的效率,以及应该做什么才能满足功率器件设计人员和测试工程师的需要。

关键词:KEITHLEY  高效率半导体器件  IGBT  电流特性  电压特性  电流源表  

演讲嘉宾

演讲专家:
柳妍妍
专家职务:
应用工程师
专家简介:
KEITHLEY应用工程师,2011年加入KEITHLEY公司,负责北方区技术支持工作。毕业于北京理工大学测控技术与仪器专业,熟悉低电平测量技术及源表测试相关应用。

答疑嘉宾

答疑嘉宾:
柳妍妍
专家职务:
应用工程师
专家简介:
KEITHLEY应用工程师,2011年加入KEITHLEY公司,负责北方区技术支持工作。毕业于北京理工大学测控技术与仪器专业,熟悉低电平测量技术及源表测试相关应用。

奖项设置

奖品说明:
凡报名且全程参加在线研讨会的听众,会后将每人得到EEPW提供的10元京东礼品券。

关于公司

吉时利仪器公司为全球专业的电子制造商提供高准确度的用于产品测试、过程监控、产品发展和研究的各种测量解决方案。我公司大约拥有 500 多种产品,分别用于:源、测量、连接、控制或 DC 通信和光电信号。我们可以提供完整的包括仪器和主机插板的解决方案,既可作为系统的一个组件,也能作为独立的解决方案。我们客户是制造、产品更新和研究领域的工程师、技术人员和科学家。