非易失存储器-特性分析与测量技术
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问题 |
日期 |
【问】kason521 |
那和Nand Flash Nor Flash和EEPROM有多少的区别的,我在设计中用这些比较多些! |
2011-12-08 10:36:00 |
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【问】licheng_8 |
非易失存储器刷新频率多高? |
2011-12-08 10:36:00 |
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【问】云帆123 |
非易失性存储器的最大存储空间能做到多大呢? |
2011-12-08 10:36:00 |
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【问】caokang |
EEPROM屬於NVM嗎 |
2011-12-08 10:35:00 |
【答】 |
是的 |
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【问】kjcom10 |
存储器我们平时主要是使用,去测量它的时候确实很少,主要是安全性是第一的? |
2011-12-08 10:35:00 |
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【问】lingdangstar |
RPM的阈值电压一般为多少,达到多少算失效? |
2011-12-08 10:35:00 |
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rpm是与4200PMU单元相配合的多功能矩阵开关器。 |
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【问】lxdml |
为什么掉电了,非易失性存储器的存储状态还可以保存下来?? |
2011-12-08 10:35:00 |
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【问】tian6822255 |
我们是用这些存储器设计电路,以前没怎么考虑对存储器本身的测试,只知道大概怎么选 |
2011-12-08 10:35:00 |
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【问】wangtong304 |
存储空间多大? |
2011-12-08 10:35:00 |
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【问】wl422625045 |
feRAM 实际应用在哪些场合呢? |
2011-12-08 10:35:00 |
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【问】xinmiaomiao |
感觉这个跟单片机上的EEProm一个功能 |
2011-12-08 10:35:00 |
【答】 |
FeRAM在多数情况下,可以作为E2PROM的第二种选择,它除了E2PROM的性能外,访问速度要快得多。但是决定使用FRAM之前,必须确定系统中一旦超出对FRAM的100亿次访问之后绝对不会有问题。 |
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【问】bbanianj |
MCU内的Flash也能进行分析测试吗?还不清楚一个器件怎么利用该仪器进行连接测试,不同的器件引脚不一样,读写时序也不一样,如何操作呢?谢谢。 |
2011-12-08 10:34:00 |
【答】 |
这需要能够有探针与电极直接相连,如果硬件连接可以解决,且测试环境优良,确保没有任何非正常回路(例如会产生漏电等),那么是可以测量的 |
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【问】cui_lz |
老师讲的这三种非易失存贮器主要使用在那些嵌入式产品上? |
2011-12-08 10:34:00 |
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【问】lxdml |
非易失性存储器发展最好的方向是何方啊? |
2011-12-08 10:34:00 |
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【问】wenyangzeng |
铁电存储器的存取速度比DRAM存储器的速度那个快? |
2011-12-08 10:34:00 |
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