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LPWAN 的技术进展以及测试挑战解读

时间: 2018年04月24日 10:00         距离会议当天还有 2

简介: 随着以NB-IoT、LoRa等技术为代表的LPWAN物联网技术的蓬勃发展以及网络部署进展,2018年被认为是物联网应用爆发的一年。这一年,行业工程师不再只是了解概念或前期调研,而是真真正正进入到产品设计应用的阶段。你现在是处于这个状态么? 本次研讨会将对以NB-IoT、LoRa为代表的LPWAN技术做相应的更新,阐述行业工程师在设计、测试过程中可能遇到的如功耗、深度覆盖相关的主要挑战,并给出...

现代电源完整性测试的四大挑战

时间: 2017年10月18日 10:00        

简介: 现代高速电路中的数据速率已经提高至10Gbps甚至更高,电路的集成度也越来越高,大规模的门电路在开关切换,会产生开关噪声、串扰、以及供电电源变化等问题,而电源质量的变化又会反过来影响高速信号的质量。同时,更高转换效率、更低工作的芯片也对电源性能和质量提出了更高要求。现代的电源设计和测试面临电源PDN网络的仿真与分析、高频纹波的精确测试、开关效能分析以及抗干扰能力测试等方面的巨大挑战,本专题将详细解...

在 KVM 应用中使用 Zynq UltraScale+ MPSoC

时间: 2017年09月12日 10:00        

简介: 研讨会内容简介: ● 什么是KVM? ● 探讨KVM的问题与需求 ● 赛灵思能提供什么帮助? ● 后续发展方向 ...

红外热像电子研发实操技巧分享

时间: 2017年08月15日 14:00        

简介: "如何把热像图拍得更清晰?如何把温度测得更准确?对于特殊现场有哪些解决方案?对连续温度变化的目标该如何进行分析? 通过此次研讨会,福禄克汇集多年来的红外热像现场经验,分享红外热像仪实用操作技巧,让您真正用好热像仪。" ...