松下电器PhotoMOS产品及其应用案例介绍会
时间：2012年05月15日 10:00
简介： 松下电器的PhotoMOS产品是指在输入元件中采用了LED,输出元件中采用了MOSFET的光电耦合器。由于具备体积小、寿命长、可靠性高、耗电量少且无声等优点，已被广泛应用于各个领域。此次在线研讨会主要通过PhotoMOS的原理，销售要点和样本查看方法三方面来介绍松下电器PhotoMOS产品。此外还详尽介绍了松下电器PhotoMOS产品在BMS和DCS的成功应用案例。此次研讨会内容具有极强的实用性和...
恩智浦电容式传感器解决方案
时间：2012年04月17日 10:00
简介： 本次研讨会主要介绍以下几点内容： 1.恩智浦电容式传感器的产品系列 2.恩智浦传感器的优点 3.恩智浦电容式传感器的演示板介绍...
如何借助赛灵思7系列目标设计平台提高设计生产力
时间：2012年03月29日 10:00
简介： 此次研讨会将着重介绍赛灵思最新发布的7系列目标设计平台。除了介绍最新的Kintex-7 KC705评估套件、Virtex-7 VC707评估套件以及Kintex-7 FPGA DSP套件的技术细节之外， ，此次研讨会还将为您展示赛灵思7系列目标设计平台的路线图，使您能够提前全盘规划自己基于该平台的设计。借助赛灵思快速交付的目标设计平台，可以加速您率先启动7系列FPGA的设计开发。同时，目标设计平台...
什么是源测量单元（SMU）仪器，怎样为您的应用选择合适的源测量单元（SMU）仪器 ?
时间：2012年03月27日 10:00
简介： 源测量单元（SMU）可以提高生产效率，完成更全面的特性测试，并提高测试系统整体性能。然而，为了真正优化测试，在为应用选择合适的源测量单元（SMU）时，必须综合考虑“说明书中的性能指标”。 此次在线研讨会将介绍源测量单元（SMU）的工作原理，说明选择源测量单元（SMU）仪器时需要考虑的关键因素及性能，以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...
泰克公司 RFID 测试方案
时间：2012年01月10日 10:00
简介： RFID 技术概述 – RFID 定义及标准 – RFID 信号特点 – RFID 测试挑战 RFID 信号测试 – 嵌入式 RF 调测 – RFID 标准符合性测试 – RFID 互通性测试 泰克 RFID 测试方案 – MDO4000 混合域示波器在 RFID 嵌入式 RF 调测中的应用 – 实时信号分析仪及 MDO4000 在RFID 标准符合性测试中的应...
SFF 8431 SFP+ PHY 测试方案
时间：2011年12月22日 10:00
简介： SFF 8431 SFP+是在2009年编写的最佳定义标准, 适用于 8.5GbE和11.1GbE数据通信及存储区域网(SAN)应用的下一代可热插拔、小型、串行到串行多速率光学收发机。SFP+技术把时钟单元和数据恢复单元移出模块，移到线路卡上，从而大大缩小了尺寸，在一个机架中实现了每端口低功率及高端口密度。本讲座将为大家介绍SRP+的产品测试及面临的系列挑战,内容涵盖如下： 泰克以太网解决方案 ...
混合域示波器在数字射频系统设计与验证中的应用
时间：2011年12月15日 10:00
简介： 混合域示波器在数字射频系统设计与验证中的应用演讲大纲： 1. zigbee技术特点 2. MDO混合域示波器及其功能特点 3. Zigbee系统的时域频域联合调试 4. 模拟电池耗尽状态对射频电路的影响 5. 数字总线控制与射频电路功能分析 6. 数字射频系统中的噪声来源与杂散分析 7. 总结 了解更多关于泰克 MDO,请点击http://www1.tek.com/zh/sco...
非易失存储器-特性分析与测量技术
时间：2011年12月08日 10:00
简介： 寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器（NVM）的替代技术，例如正在进行的相变存储器（PCM/PRAM）、铁电存储器（FeRAM）、磁阻存储器（MRAM）和阻性存储器（ReRAM）。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多，但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析，例如瞬态开关性能、耐力，并需要动态电流测量。 非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLA...