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非易失存储器-特性分析与测量技术

时间: 2011年12月08日 10:00        

简介:寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器(NVM)的替代技术,例如正在进行的相变存储器(PCM/PRAM)、铁电存储器(FeRAM)、磁阻存储器(MRAM)和阻性存储器(ReRAM)。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多,但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析,例如瞬态开关性能、耐力,并需要动态电流测量。
非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLASH、PRAM、ReRAM和FeRAM等各种NVM技术的常用特性分析和测量技术。本期研讨会还将介绍标准测量仪器的改进——用单机提供脉冲源和测量,即同步测量电流和电压同时向存储器件或材料施加多个脉冲波形。

关键词:keithley  非易失存储器  瞬态开关性能  动态电流测量  PRAM  半导体测试  FLASH  

演讲嘉宾

演讲专家:
王晓
专家职务:
应用工程师
专家简介:
Nicky Wang 是美国吉时利仪器公司上海代表处的应用工程师,他于2010年加入吉时利,并在英国华威大学获得高级电子工程硕士学位。

答疑嘉宾

答疑嘉宾:
王晓
专家职务:
应用工程师
专家简介:
Nicky Wang 是美国吉时利仪器公司上海代表处的应用工程师,他于2010年加入吉时利,并在英国华威大学获得高级电子工程硕士学位。

奖项设置

奖品说明:
凡报名且全程参加在线研讨会的听众,会后将每人得到EEPW提供的10元手机充值卡。

关于公司

吉时利仪器公司为全球专业的电子制造商提供高准确度的用于产品测试、过程监控、产品发展和研究的各种测量解决方案。我公司大约拥有 500 多种产品,分别用于:源、测量、连接、控制或 DC 通信和光电信号。我们可以提供完整的包括仪器和主机插板的解决方案,既可作为系统的一个组件,也能作为独立的解决方案。我们客户是制造、产品更新和研究领域的工程师、技术人员和科学家。