如何借助赛灵思7系列目标设计平台提高设计生产力
时间：2012年03月29日 10:00
简介： 此次研讨会将着重介绍赛灵思最新发布的7系列目标设计平台。除了介绍最新的Kintex-7 KC705评估套件、Virtex-7 VC707评估套件以及Kintex-7 FPGA DSP套件的技术细节之外， ，此次研讨会还将为您展示赛灵思7系列目标设计平台的路线图，使您能够提前全盘规划自己基于该平台的设计。借助赛灵思快速交付的目标设计平台，可以加速您率先启动7系列FPGA的设计开发。同时，目标设计平台...
什么是源测量单元（SMU）仪器，怎样为您的应用选择合适的源测量单元（SMU）仪器 ?
时间：2012年03月27日 10:00
简介： 源测量单元（SMU）可以提高生产效率，完成更全面的特性测试，并提高测试系统整体性能。然而，为了真正优化测试，在为应用选择合适的源测量单元（SMU）时，必须综合考虑“说明书中的性能指标”。 此次在线研讨会将介绍源测量单元（SMU）的工作原理，说明选择源测量单元（SMU）仪器时需要考虑的关键因素及性能，以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...
泰克公司 RFID 测试方案
时间：2012年01月10日 10:00
简介： RFID 技术概述 – RFID 定义及标准 – RFID 信号特点 – RFID 测试挑战 RFID 信号测试 – 嵌入式 RF 调测 – RFID 标准符合性测试 – RFID 互通性测试 泰克 RFID 测试方案 – MDO4000 混合域示波器在 RFID 嵌入式 RF 调测中的应用 – 实时信号分析仪及 MDO4000 在RFID 标准符合性测试中的应...
SFF 8431 SFP+ PHY 测试方案
时间：2011年12月22日 10:00
简介： SFF 8431 SFP+是在2009年编写的最佳定义标准, 适用于 8.5GbE和11.1GbE数据通信及存储区域网(SAN)应用的下一代可热插拔、小型、串行到串行多速率光学收发机。SFP+技术把时钟单元和数据恢复单元移出模块，移到线路卡上，从而大大缩小了尺寸，在一个机架中实现了每端口低功率及高端口密度。本讲座将为大家介绍SRP+的产品测试及面临的系列挑战,内容涵盖如下： 泰克以太网解决方案 ...
混合域示波器在数字射频系统设计与验证中的应用
时间：2011年12月15日 10:00
简介： 混合域示波器在数字射频系统设计与验证中的应用演讲大纲： 1. zigbee技术特点 2. MDO混合域示波器及其功能特点 3. Zigbee系统的时域频域联合调试 4. 模拟电池耗尽状态对射频电路的影响 5. 数字总线控制与射频电路功能分析 6. 数字射频系统中的噪声来源与杂散分析 7. 总结 了解更多关于泰克 MDO,请点击http://www1.tek.com/zh/sco...
非易失存储器-特性分析与测量技术
时间：2011年12月08日 10:00
简介： 寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器（NVM）的替代技术，例如正在进行的相变存储器（PCM/PRAM）、铁电存储器（FeRAM）、磁阻存储器（MRAM）和阻性存储器（ReRAM）。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多，但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析，例如瞬态开关性能、耐力，并需要动态电流测量。 非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLA...
最优低电流和高电阻测量技术
时间：2011年11月22日 10:00
简介： 许多种应用要求进行低电流（1GΩ）测量。例如，低电流测量用于确定FET的栅极漏电流，测试灵敏的纳米电子器件以及测量电容器的漏电流；高电阻测量用于确定绝缘体的电阻率，多芯电缆和连接器及印制电路板等器件的绝缘电阻。在测量高阻抗时，采用一些适当的技术避免误差非常重要。此研讨会详细介绍了低电流和高电阻测量过程中获得理想测量结果的一些方法和技术。 参加研讨会的人员将了解到高阻抗测量的基本原理以及如何进行高...
电性参数测试的基本知识
时间：2011年10月25日 10:00
简介： 更好的理解电性参数测试的基本知识,包括在测试电压,电流,温度,电阻等电参数的时候,怎样更准确的测试我们所需要的参数,理解准确度,灵敏度,分辨率等常见的测试仪器的规格指标,以便用户在构建自己的测试系统过程中,如何更好的利用现有的仪器和选择对自己来说性价比最好的测试仪器设备。...