超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱
时间：2012年05月29日 10:00
简介： 本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果。...
高性价比、高效开关测试系统技术探讨
时间：2011年09月08日 10:00
简介： 保持测试系统具有高性价比和高效率是每个测试工程师追求的目标。当系统中包括不止一个待测器件(DUT)或测试点时，很好的切换待测体连接到源端或测试仪器端,对于整体的测试系统是非常重要的。设计满足系统需求的开关需要了解待测器件(DUT)、待测器件(DUT)数量、信号大小、所需速度以及传输信号的设备。本研讨会将介绍开关基本原理、开关种类（继电器、晶体管等)以及开关系统种类(多路复用器、开关阵列等)。...
大功率、高亮度LED电性测试的应用需要
时间：2011年07月07日 10:00
简介： 主要介绍大功率LED和大功率LED模块的区别,包括PACKAGED方式和不同的测试需求.对于大功率LED模块来说,介绍脉冲工作方式所带来的好处,另外着重强调了在进行大功率测试的时候对测试仪器的严格要求和怎样选择连接线以避免阻抗和感抗所带来的影响.最后介绍另外一种发光二极管的晶闸管效应,包括它的定义,如何进行测试等等。...
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