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创新电源分析与测试方法
时间： 2013年03月14日 10:00
简介： 电源产品随着电子技术的发展，普遍采用开关技术或者逆变技术，对于采用这些技术的产品开发会遇到一些测量上的问题，制约着工程师对于产品的掌握，泰克公司提供的测试仪器能有效帮助工程师解决这些问题，如安全浮地、延迟校准、探头的选择以及最新的总线分析等。...
MDO 混合域分析仪在EMI诊断中的应用
时间： 2013年01月17日 10:00
简介： 过多的EMI干扰，FCC要求通不过，不知道因何？用频谱仪加近场探头只能找出哪里EMI辐射过多，却不知道是有什么原因造成？如何诊断导致EMI的根本原因，着手解决减低辐射问题？此次研讨会将解答你对如何诊断系统EMI的各种问题，如何透过时域、频域联合调测查找系统EMI的根本原因。 演讲大纲： * EMI 测试概述 * EMI 简介 * EMI 测试简介 * 认证测试 * 预认证...
NI 图形化系统设计加速嵌入式控制与监测系统开发
时间： 2012年12月27日 10:00
简介： NI为世界各地的工程师和科学家从设计、原型到发布嵌入式控制与监测系统带来了新的变革。LabVIEW软件和NI 可重配置I/O (RIO)硬件为设计团队提供了一个卓越的设计方法，以便在不需要自定制设计的情况下更快地完成要求苛刻的嵌入式控制与监测任务。NI嵌入式控制与监测系统设计工具是NI图形化系统设计平台的核心组成部分。利用图像化系统设计方法， 结合高效的编程软件对 NI RIO 可重配置硬件进行编...
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