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什么是源测量单元（SMU）仪器，怎样为您的应用选择合适的源测量单元（SMU）仪器 ?
时间： 2012年03月27日 10:00
简介： 源测量单元（SMU）可以提高生产效率，完成更全面的特性测试，并提高测试系统整体性能。然而，为了真正优化测试，在为应用选择合适的源测量单元（SMU）时，必须综合考虑“说明书中的性能指标”。 此次在线研讨会将介绍源测量单元（SMU）的工作原理，说明选择源测量单元（SMU）仪器时需要考虑的关键因素及性能，以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...
泰克公司 RFID 测试方案
时间： 2012年01月10日 10:00
简介： RFID 技术概述 – RFID 定义及标准 – RFID 信号特点 – RFID 测试挑战 RFID 信号测试 – 嵌入式 RF 调测 – RFID 标准符合性测试 – RFID 互通性测试 泰克 RFID 测试方案 – MDO4000 混合域示波器在 RFID 嵌入式 RF 调测中的应用 – 实时信号分析仪及 MDO4000 在RFID 标准符合性测试中的应...
SFF 8431 SFP+ PHY 测试方案
时间： 2011年12月22日 10:00
简介： SFF 8431 SFP+是在2009年编写的最佳定义标准, 适用于 8.5GbE和11.1GbE数据通信及存储区域网(SAN)应用的下一代可热插拔、小型、串行到串行多速率光学收发机。SFP+技术把时钟单元和数据恢复单元移出模块，移到线路卡上，从而大大缩小了尺寸，在一个机架中实现了每端口低功率及高端口密度。本讲座将为大家介绍SRP+的产品测试及面临的系列挑战,内容涵盖如下： 泰克以太网解决方案 ...
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