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LTspice®︎ 24仿真工具:优化、简化电路仿真,并加快仿真速度

时间: 2025年08月27日 10:00         距离会议当天还有 49

简介: 欢迎参加本次在线研讨会,了解LTspice 24中的新功能。探索新增的频率响应分析功能,该功能特别适用于优化开关模式电源的环路补偿。 与会者将了解: • Review new features and enhancements found in LTspice® 24 • 查看LTspice® 24中的新功能和增强功能 • Learn how to create Bode plots ...

易于驱动SAR型ADC的原理、优点及应用介绍

时间: 2025年09月03日 10:00         距离会议当天还有 56

简介: 首先介绍传统信号链中运算放大器和ADC的设计方案,包括ADC驱动器参数的选取解析。其次,介绍ADI最新的SAR ADC实现易于驱动特性的不同原理,以及其为整体信号链设计带来的优点。最后,为大家介绍ADI最新的精密信号链应用解决方案。...

安森美(onsemi)SiC JFET产品组合高效赋能热插拔(Hot Swap)应用与先进系统级设计工具介绍

时间: 2025年09月11日 10:00         距离会议当天还有 64

简介: 本次研讨会将聚焦安森美(onsemi)SiC JFET/Combo JFET在高压热插拔(Hot Swap)应用中的关键优势与设计实践。将介绍热插拔过程中浪涌电流的挑战,以及传统限流方案在高压系统中的局限。通过引入SiC JFET及其在线性模式下的出色性能,如宽广的安全工作区、高热稳定性和低导通电阻,展示其在限流电路中的理想应用。研讨会还将分享安森美最新的SSG/IBD设计工具,为工程师提供一站式...

从光源到智能,解析安森美汽车LED照明解决方案

时间: 2025年10月16日 10:30         距离会议当天还有 99

简介: 随着智能汽车向域集中式架构演进,车灯系统正经历从“单一照明”到“智能交互终端”的革命。安森美基于行业领先的LED驱动技术以及以太网通信技术,为汽车提供覆盖前灯、尾灯、氛围灯等全域照明系统解决方案。 ...

最新的高速串行系统测试技术及应用——基于BERTScope的整体解决方案

时间: 2010年12月15日 10:00        

简介: 在数字系统数据传输率日趋加快的背景下,以往的许多设计、测试理念已经变得不再适用,一致性测试和调试变得尤其的突出。整个高速系统划分为三大子系统:Tx、Channal和Rx。在Tx测试中,需要越来越高速的测量设备,带宽性能逐渐成了测试的瓶颈;而单纯的Tx一致性测试还不足以确保整个系统的BER要求。Rx测试(Rx容限测试),在以往相对低速的系统测试中是没有考虑过的,如今Rx中集成了更多的复杂功能,如Eq...

基于软件定制工业与嵌入式测控系统

时间: 2010年12月09日 10:00        

简介: 构建可靠的工业与嵌入式测控系统,过程往往相当复杂。针对千变万化的待测信号和被控对象,往往需要充分理解信号的特点、定制不同的测量和控制策略,甚至进行自定义的硬件电路的开发,经过漫长的调试过程。在这种情况下,工程师不得不在系统性能与项目开发时间中做出选择。   在本讲座中,NI工程师将为您介绍如何利用LabVIEW图形化开发平台和FPGA技术,基于软件来定制您的工业与嵌入式测控系统,在确保性能的情...

信号完整性分析与S参数测量专题报告

时间: 2010年11月23日 10:00        

简介: 随着半导体工艺的不断发展,数字信号的速率也愈来愈高,Gbps以上的高速信号已经随处可见。面对高速设计的新领域,硬件设计工程师们需要改变传统的设计理念,他们需要以更加超前的思维去思考自己将要设计的信号的质量,或许在制定产品设计方案的时候就需要进行调研;需要在设计过程的每一个环节去思考信号质量问题,如方案设计环节,原理图设计环境,PCB设计环节,测试验证环节等等;需要考虑到系统中的每一个构成成分可能给...