
艾睿红外热像仪助力电子电路设计开启温度可视化监测视界
时间:2023年06月28日 10:00
简介: 电子电路设计测试阶段,科研人员需要对电路板中的电子元器件进行温度监测,观察元器件的温度负载情况,以保证电路板研发工作的顺利进行。在测试过程中,需要模拟电路板的实际工作环境,观察电子元器件从上电至稳定这一过程中的温度状态。电路板中的电子元器件精细程度较高,传统的接触式测温设备工作繁杂,不能满足科研人员的测试要求。 艾睿光电,作为红外热成像领军者,为广大从事电子电路开发的工程师提供了可视化温度监...
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