如何为高亮度LED提供准确可靠的测试
时间：2011年05月31日 10:00
简介： 随着LED逐渐被广泛应用到各个领域,特别是高亮度的LED应用的高速发展和普遍使用,象汽车,照明,路灯等等.LED的电性测试也变的多样性,提出了更高的测试要求并更具挑战性,要很好的解决这些测试问题给LED提供准确可靠的测试结果,必须要了解问题产生的根源,KEITHLEY针对高亮度LED一些特别的测试,提供相应的解决方案来解决高亮度LED测试的以下问题: 1. LED自发热效应以及如何避免自发热效应...
如何选择高精度万用表
时间：2011年03月29日 10:00
简介： 高精度数字万用表是基本的电参数测量仪器，是从事精密设备研发和生产不可或缺的工具。目前数字万用表向着高精度、高稳定性、多测量、多分析、可程控的方向发展，市场上也是群雄逐鹿，产品种类多样，乱花渐欲迷人眼，作为电子工程师，弄清高精度万用表能帮助我们做什么，如何选择适合自己的开发工具，如何充分利用万用表功能提高测试分析效率，成为无法回避的问题。本次研讨会以DM3068高精度万用表为解剖对象，从高精度万用表...
联发科技首届校园软件大赛交流互动
时间：2010年11月15日 19:00
简介： 本次联发科技首届校园软件大赛旨在鼓励广大同学发挥创造创新能力，把理论与实践结合起来。建立一个交流平台，让学生有机会与全国各大院校有共同兴趣的同学进行交流，共同提升设计水平。有机会与业界的专家进行深入地探讨，提高对技术知识的应用和产品商业化的认知。 本次大赛以VRE3.0软件平台为设计基础，充分发挥学生的创新思维能力，集思广益，拓展在手机平台上网络软件应用的丰富性和多样化。...
联发科技首届校园软件大赛在线答疑
时间：2010年10月14日 10:00
简介： 本次联发科技首届校园软件大赛旨在鼓励广大同学发挥创造创新能力，把理论与实践结合起来。建立一个交流平台，让学生有机会与全国各大院校有共同兴趣的同学进行交流，共同提升设计水平。有机会与业界的专家进行深入地探讨，提高对技术知识的应用和产品商业化的认知。 本次大赛以VRE3.0软件平台为设计基础，充分发挥学生的创新思维能力，集思广益，拓展在手机平台上网络软件应用的丰富性和多样化。...
USB3.0端到端物理层测试技术研讨会
时间：2010年04月08日 10:00
简介： SuperSpeed USB，即USB3.0，是下一代的USB接口标准，速度由USB2.0的480Mbps提升到了5Gbps，以满足当前与未来高清视频和动辄GByte的数据传输的需求，在2008年11月，HP、Intel、微软、NEC、ST-NXP、TI联合起来正式发布了USB3.0的V1.0规范。美国力科作为串行数据分析仪器的领导者，于2009年4月发布了USB3.0的物理层测试的完整解决方案，...
恩智浦高速低功耗ARM Cortex-M3微控制器 - LPC1700
时间：2009年06月18日 10:00
简介： 本次研讨会主要介绍恩智浦最新的LPC1700 系列微控制器。该系列微控制器以ARM公司的Cortex-M3（版本2）为内核，具有超低功耗，高性价比的特点。和恩智浦以往的ARM7微控制器一样，该系列微控制器同样具有性能卓越而丰富的外设，比如，以太网控制器，USB（包括Host，Device和OTG），CAN，12-bit ADC，DAC，专用于电机控制的PWM模块（带死区控制）以及QEI，I2S，超...
具有高速USB2.0 OTG接口的恩智浦LPC31xx系列ARM9微控制器(本培训内容来自于：Global Sources)
时间：2009年04月16日 10:00
简介： 恩智浦半导体拥有业界最丰富的ARM系列微控制器产品。作为ARM7内嵌闪存微控制器方面的引领者，恩智浦同时也拥有基于ARM9、Cortex等多种ARM内核的微控制器产品。本次研讨会将介绍恩智浦半导体最新推出的具有高速USB2.0 OTG接口及业界最低成本的ARM9微控制器 - LPC313x及LPC315x系列产品。LPC313x系列产品能够给嵌入式开发人员带来更高性能、更低成本和功耗、更灵活的US...
利用LXI搭建高性能测试测量系统
时间：2008年05月28日 10:00
简介： 基于Ethernet的LXI通信总线将成为新一代高性能测试测量仪器的行业标准，它利用LAN强大的扩展能力，为测试系统开发人员提供了更为简单的集成方法，同时具有更高的数据吞吐能力、更好的兼容能力、更经济的成本。本次研讨会将向您介绍RIGOL新推出的国内首款符合LXI C类仪器标准的4通道数字示波器DS1000B，并与您共同探讨LXI总线标准的特点和优势，以及LXI仪器在科研、工业领域中的应用，和您一...