最优低电流和高电阻测量技术
时间：2011年11月22日 10:00
简介： 许多种应用要求进行低电流（1GΩ）测量。例如，低电流测量用于确定FET的栅极漏电流，测试灵敏的纳米电子器件以及测量电容器的漏电流；高电阻测量用于确定绝缘体的电阻率，多芯电缆和连接器及印制电路板等器件的绝缘电阻。在测量高阻抗时，采用一些适当的技术避免误差非常重要。此研讨会详细介绍了低电流和高电阻测量过程中获得理想测量结果的一些方法和技术。 参加研讨会的人员将了解到高阻抗测量的基本原理以及如何进行高...
为您的下一个FPGA设计开启新的生产力时代
时间：2010年06月09日 10:00
简介： 赛灵思ISE12设计套件有望成为近十年来最受欢迎的产品， 帮助您实现融合了无数障碍的、极具挑战的设计目标！你不仅要努力实现更高的性能指标，利用更先进的FPGA架构，并遵守更严格的功耗预算，而且还要满足紧缩得更短的开发进度。 “少花钱多办事”或者“事半功倍”已经成为驱动当今FPGA设计流程发展的主题。 赛灵思ISE 12设计套件是针对Virtex-6和Spartan-6 FPGA 而推出的生产力...
USB3.0端到端物理层测试技术研讨会
时间：2010年04月08日 10:00
简介： SuperSpeed USB，即USB3.0，是下一代的USB接口标准，速度由USB2.0的480Mbps提升到了5Gbps，以满足当前与未来高清视频和动辄GByte的数据传输的需求，在2008年11月，HP、Intel、微软、NEC、ST-NXP、TI联合起来正式发布了USB3.0的V1.0规范。美国力科作为串行数据分析仪器的领导者，于2009年4月发布了USB3.0的物理层测试的完整解决方案，...
恩智浦高速低功耗ARM Cortex-M3微控制器 - LPC1700
时间：2009年06月18日 10:00
简介： 本次研讨会主要介绍恩智浦最新的LPC1700 系列微控制器。该系列微控制器以ARM公司的Cortex-M3（版本2）为内核，具有超低功耗，高性价比的特点。和恩智浦以往的ARM7微控制器一样，该系列微控制器同样具有性能卓越而丰富的外设，比如，以太网控制器，USB（包括Host，Device和OTG），CAN，12-bit ADC，DAC，专用于电机控制的PWM模块（带死区控制）以及QEI，I2S，超...
利用LXI搭建高性能测试测量系统
时间：2008年05月28日 10:00
简介： 基于Ethernet的LXI通信总线将成为新一代高性能测试测量仪器的行业标准，它利用LAN强大的扩展能力，为测试系统开发人员提供了更为简单的集成方法，同时具有更高的数据吞吐能力、更好的兼容能力、更经济的成本。本次研讨会将向您介绍RIGOL新推出的国内首款符合LXI C类仪器标准的4通道数字示波器DS1000B，并与您共同探讨LXI总线标准的特点和优势，以及LXI仪器在科研、工业领域中的应用，和您一...
瑞萨学习工具包讲座_M16C族
时间：2007年09月07日 15:21
简介： 主要介绍了以下三方面的内容：M16C族MCU介绍、M16C/62P群MCU的优点、M16C/62P群MCU的开发环境介绍。...