最新的高速串行系统测试技术及应用——基于BERTScope的整体解决方案
时间：2010年12月15日 10:00
简介： 在数字系统数据传输率日趋加快的背景下，以往的许多设计、测试理念已经变得不再适用，一致性测试和调试变得尤其的突出。整个高速系统划分为三大子系统：Tx、Channal和Rx。在Tx测试中，需要越来越高速的测量设备，带宽性能逐渐成了测试的瓶颈；而单纯的Tx一致性测试还不足以确保整个系统的BER要求。Rx测试（Rx容限测试），在以往相对低速的系统测试中是没有考虑过的，如今Rx中集成了更多的复杂功能，如Eq...
基于软件定制工业与嵌入式测控系统
时间：2010年12月09日 10:00
简介： 构建可靠的工业与嵌入式测控系统，过程往往相当复杂。针对千变万化的待测信号和被控对象，往往需要充分理解信号的特点、定制不同的测量和控制策略，甚至进行自定义的硬件电路的开发，经过漫长的调试过程。在这种情况下，工程师不得不在系统性能与项目开发时间中做出选择。 在本讲座中，NI工程师将为您介绍如何利用LabVIEW图形化开发平台和FPGA技术，基于软件来定制您的工业与嵌入式测控系统，在确保性能的情...
为您的下一个FPGA设计开启新的生产力时代
时间：2010年06月09日 10:00
简介： 赛灵思ISE12设计套件有望成为近十年来最受欢迎的产品， 帮助您实现融合了无数障碍的、极具挑战的设计目标！你不仅要努力实现更高的性能指标，利用更先进的FPGA架构，并遵守更严格的功耗预算，而且还要满足紧缩得更短的开发进度。 “少花钱多办事”或者“事半功倍”已经成为驱动当今FPGA设计流程发展的主题。 赛灵思ISE 12设计套件是针对Virtex-6和Spartan-6 FPGA 而推出的生产力...
恩智浦高速低功耗ARM Cortex-M3微控制器 - LPC1700
时间：2009年06月18日 10:00
简介： 本次研讨会主要介绍恩智浦最新的LPC1700 系列微控制器。该系列微控制器以ARM公司的Cortex-M3（版本2）为内核，具有超低功耗，高性价比的特点。和恩智浦以往的ARM7微控制器一样，该系列微控制器同样具有性能卓越而丰富的外设，比如，以太网控制器，USB（包括Host，Device和OTG），CAN，12-bit ADC，DAC，专用于电机控制的PWM模块（带死区控制）以及QEI，I2S，超...
具有高速USB2.0 OTG接口的恩智浦LPC31xx系列ARM9微控制器(本培训内容来自于：Global Sources)
时间：2009年04月16日 10:00
简介： 恩智浦半导体拥有业界最丰富的ARM系列微控制器产品。作为ARM7内嵌闪存微控制器方面的引领者，恩智浦同时也拥有基于ARM9、Cortex等多种ARM内核的微控制器产品。本次研讨会将介绍恩智浦半导体最新推出的具有高速USB2.0 OTG接口及业界最低成本的ARM9微控制器 - LPC313x及LPC315x系列产品。LPC313x系列产品能够给嵌入式开发人员带来更高性能、更低成本和功耗、更灵活的US...
泰克新款示波器，带来简单经济的嵌入式调试方案
时间：2008年11月19日 09:30
简介： 当前的工程师和技术人员正面临着日益复杂关键的调试任务。新型数字设计给设计人员带来了新的问题：串行总线上的系统集成问题，瞬变，信号畸变，总线争用问题等等，当然也包括产品开发周期的竞争压力，这一切都要求技术人员必须迅速准确地完成调试工作。 泰克推出新款示波器，以极佳的经济性提供了杰出的性能。可以迅速简便地查看电路行为，准确捕获信号，分析采集的波形，确定电路故障的根本原因; 以更经济成本、更便捷的手段...
快速构建高效完整的数据采集系统
时间：2008年10月16日 10:00
简介： 您想知道构建高效数据采集系统的五大考虑因素吗？您想了解传感器与信号调理的基本原理吗？您想体验LabVIEW是如何帮助您快速创建数据采集应用吗？ 通过参加本次在线研讨会，您的问题将一一得到解答。在全球数据采集（DAQ）市场长期保持领先地位的NI将向您展现NI数据采集设备的独特之处，帮助您轻松选择最适合的产品，满足各种测量要求。...
新一代电源系统分析与测试方案
时间：2008年01月15日 09:00
简介： 1. 开关电源 (SMPS)技术的最新发展趋势 2. 如何利用泰克DPO4000提升开关电源系统效率 3. 如何利用泰克DPO4000提升开关电源可靠性 4. 如何利用泰克DPO4000应对开关电源设计中的PMbus和SMbus挑战 ...