开启无限红外应用，尽在福禄克大师之选专家级热像仪
时间：2015年03月10日 10:00
简介： 热像仪最小能测多小？最快能测多快？最远能测多远？ 福禄克携2015全新产品大师之选专家级热像仪，将在此次的技术交流会中为您介绍各种检测包含：微米级小目标、数百米至数千米的远距离、时速超过300公里/小时的快速运动、数秒内温升至千度的快速温度变化、1℃内的细微温差等充满技术挑战的现场，并为您量身定制高端应用中温度检测与分析的全套解决方案。...
光谱仪器仪表技术、应用和信号链概述
时间：2014年04月17日 10:00
简介： 光谱技术构成实验室和分析仪器中几乎所有光学测量的基础。 本次在线研讨会将首先介绍基础知识，展示工作原理，并描述某些典型的频谱分析信号链。 随后，我们将解释主光电二极管路径的挑战，最后讨论元件选型和最终系统设计中需要考虑的辅助测量。 本次研讨会联合举办： ...
MDO 混合域分析仪在RFID 测试中的应用
时间：2013年05月30日 10:00
简介： 泰克公司开创跨域分析新时代 · MDO4000 混合域分析仪概述 · MDO4000 混合域分析仪的特色 · MDO4000 开创跨域分析新时代 RFID 与 RFID 测试 · RFID 定义及标准 · RFID 信号特点 · RFID 测试挑战 · RFID 信号测试 MDO4000在 RFID 测试中的应...
泰克高精度功率分析仪的性能与应用
时间：2013年05月21日 10:00
简介： 12-5规划期间我国政府大力推动新能源（逆变器）、智能电网、电动汽车、节能技术与半导体照明等，投入研发与生产的企业不计其数。对于准确地验证这些设备的功率，参数，能效等，需要使用高精度的功率分析仪。这次讲座介绍泰克高精度功率分析仪（新产品）的主要技术指标，主要解决什么问题，应用于那些信号的测试，对原有示波器的电力电子测试方案怎样进行了有力的补充，具体的应用案例分析等。我们将介绍泰克专利双螺旋式分流器...
MDO 混合域分析仪在EMI诊断中的应用
时间：2013年01月17日 10:00
简介： 过多的EMI干扰，FCC要求通不过，不知道因何？用频谱仪加近场探头只能找出哪里EMI辐射过多，却不知道是有什么原因造成？如何诊断导致EMI的根本原因，着手解决减低辐射问题？此次研讨会将解答你对如何诊断系统EMI的各种问题，如何透过时域、频域联合调测查找系统EMI的根本原因。 演讲大纲： * EMI 测试概述 * EMI 简介 * EMI 测试简介 * 认证测试 * 预认证...
信号完整性网络分析仪SPARQ与仿真软件SI Studio
时间：2011年10月31日 10:00
简介： 高速电路实现前进行仿真、实现后进行验证，是高速电路设计的必要环节。力科公司为高速电路设计工程师、信号完整性工程师量身打造了一款创新的测试仪器：SPARQ-信号完整性网络分析仪,以及信号完整性仿真软件SI（Signal Integrity)Studio,帮助工程师快速准确地进行高速电路的仿真和验证。SPARQ是一种经济型投入即能精确、快速、简洁的测量S参数的新型仪器，与其配套的SI Studio软件...
电性参数测试的基本知识
时间：2011年10月25日 10:00
简介： 更好的理解电性参数测试的基本知识,包括在测试电压,电流,温度,电阻等电参数的时候,怎样更准确的测试我们所需要的参数,理解准确度,灵敏度,分辨率等常见的测试仪器的规格指标,以便用户在构建自己的测试系统过程中,如何更好的利用现有的仪器和选择对自己来说性价比最好的测试仪器设备。...
信号完整性分析与S参数测量专题报告
时间：2010年11月23日 10:00
简介： 随着半导体工艺的不断发展，数字信号的速率也愈来愈高，Gbps以上的高速信号已经随处可见。面对高速设计的新领域，硬件设计工程师们需要改变传统的设计理念，他们需要以更加超前的思维去思考自己将要设计的信号的质量，或许在制定产品设计方案的时候就需要进行调研；需要在设计过程的每一个环节去思考信号质量问题，如方案设计环节，原理图设计环境，PCB设计环节，测试验证环节等等；需要考虑到系统中的每一个构成成分可能给...