如何选择高精度万用表
时间：2011年03月29日 10:00
简介： 高精度数字万用表是基本的电参数测量仪器，是从事精密设备研发和生产不可或缺的工具。目前数字万用表向着高精度、高稳定性、多测量、多分析、可程控的方向发展，市场上也是群雄逐鹿，产品种类多样，乱花渐欲迷人眼，作为电子工程师，弄清高精度万用表能帮助我们做什么，如何选择适合自己的开发工具，如何充分利用万用表功能提高测试分析效率，成为无法回避的问题。本次研讨会以DM3068高精度万用表为解剖对象，从高精度万用表...
最新的高速串行系统测试技术及应用——基于BERTScope的整体解决方案
时间：2010年12月15日 10:00
简介： 在数字系统数据传输率日趋加快的背景下，以往的许多设计、测试理念已经变得不再适用，一致性测试和调试变得尤其的突出。整个高速系统划分为三大子系统：Tx、Channal和Rx。在Tx测试中，需要越来越高速的测量设备，带宽性能逐渐成了测试的瓶颈；而单纯的Tx一致性测试还不足以确保整个系统的BER要求。Rx测试（Rx容限测试），在以往相对低速的系统测试中是没有考虑过的，如今Rx中集成了更多的复杂功能，如Eq...
信号完整性分析与S参数测量专题报告
时间：2010年11月23日 10:00
简介： 随着半导体工艺的不断发展，数字信号的速率也愈来愈高，Gbps以上的高速信号已经随处可见。面对高速设计的新领域，硬件设计工程师们需要改变传统的设计理念，他们需要以更加超前的思维去思考自己将要设计的信号的质量，或许在制定产品设计方案的时候就需要进行调研；需要在设计过程的每一个环节去思考信号质量问题，如方案设计环节，原理图设计环境，PCB设计环节，测试验证环节等等；需要考虑到系统中的每一个构成成分可能给...
USB3.0端到端物理层测试技术研讨会
时间：2010年04月08日 10:00
简介： SuperSpeed USB，即USB3.0，是下一代的USB接口标准，速度由USB2.0的480Mbps提升到了5Gbps，以满足当前与未来高清视频和动辄GByte的数据传输的需求，在2008年11月，HP、Intel、微软、NEC、ST-NXP、TI联合起来正式发布了USB3.0的V1.0规范。美国力科作为串行数据分析仪器的领导者，于2009年4月发布了USB3.0的物理层测试的完整解决方案，...