成功实现低电平直流测量的技巧
时间：2013年10月30日 10:00
简介： 当今的工程师和研究人员对低电平直流测试的需求越来越多。在我们新的研讨会中您将学到一些成功实现低电平直流测量的技巧。这些技巧会让您的测试更加流畅。 通过参加此次会议您会学到： -定义“低电平测量” -识别需要低电平测量的熟悉的应用场景 -识别影响结果和讨论解决方案的常见挑战 目标听众： 本期研讨会适于进行低电平测试的初学者...
什么是源表？在应用中如何使用正确的源表？
时间：2013年09月27日 10:00
简介： 您是否正确的选择和使用了源表呢或者还在考虑是不是应该选择源表作为您的测量工具呢？这场讲座将为您解答这些疑虑。我们的应用工程师将为您解释SMU的基本工作原理，并会介绍在源表选型过程中各款源表的特征与性能，对比不同型号的源表在现实应用中的功能和表现。 从这次在线研讨会中您将学到在不同领域如何使用源表： -实现更完善的材料特性分析 -推动测试系统提高效率 -增强综合实验的功能性 目标听众： ...
现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪
时间：2013年07月31日 10:00
简介： 本期在线研讨会“现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪”介绍了曲线追踪仪及其在测试功率半导体器件方面的作用。还介绍了当前市场对功率器件的需求以及现代器件如何迫使传统曲线追踪仪超越其测量极限。研讨会讨论了如何用SMU取代传统曲线追踪仪而且为什么SMU是测试当今器件的最佳仪器。最后，研讨会将讨论如何将数台SMU搭建成为现代参数曲线追踪仪并实现I-V测量和高压C-V测量。 通过参加此研讨会，您...
用4线法分析材料电阻率和测试结构
时间：2013年06月27日 10:00
简介： 电阻率是材料的基本特性，也属于常规电气测量。但是，一些应用要求采用4线方法。而且，所用的测量方法取决于材料电阻大小、样品厚度和样品形状与大小等各种因素。本期在线研讨会详细说明了能获得最佳测量结果的各种4线方法和测量技术。 参加人员将学习4线电阻率测量基础，包括体电阻率和表面电阻。还将介绍导体电阻率的测量、半导体晶圆的四点共线探测、范德堡测试结构和程序、小功率测量，纳米线电阻率和本征半导体材料测量...
了解TFT LCD和OLED显示器的直流特性
时间：2013年05月09日 10:00
简介： 本期在线研讨会概述了测量现代TFT LCD和OLED显示器直流特性所需的测试方法和测量设备。我们将讨论这些器件的独特设计带来的专有测量挑战以及如何克服这些挑战。我们还将对处于现代显示器核心位置的薄膜晶体管关键性能参数，例如关断泄露、亚域摇摆和其它参数，介绍相关测量方法。 研讨会目标 通过参加本期研讨会，您将了解以下内容： ·TFT LCD和OLED的独特测量要求 ·进行关键直流电气测量...
了解电性量测基本原理
时间：2013年03月26日 10:00
简介： 许多人需要进行电性量测，但未必是该领域的专家。无数的应用都需要电流、电压、电阻和温度等量测，甚至时常需实现不容易达到的量测品质水准。无论是选择测试设备、设计测试系统，或只是想使用现有设备进行测量，您需要了解一些基本的检查要项，以确保您的最终量测结果能符合要求。...
高功率半导体器件测试的要点、技巧和陷阱
时间：2012年08月15日 10:00
简介： 虽然功率半导体器件测试曾被认为是一个专业领域，但现在许多研究人员、大学和公司正在对此类器件进行测量。工程师和科学家在从小信号器件测试转移到功率半导体器件测试时将面临新的挑战。本期研讨会将介绍一些常见的挑战并回顾避开这些挑战的方法。 参加研讨会的网友将会了解以下内容： 1.如何检测并抑制器件振荡； 2.如何配置仪器并实现100A高脉冲电流的准确测量； 3.如何利用...
高功率半导体器件测试的基础
时间：2012年06月27日 10:00
简介： 近年来，为满足更高效率、更高功率最终产品的要求，对开发功率半导体器件的兴趣骤增。为了提高效率，研究人员把精力集中在改善某些关键器件参数，而且准确测试这些参数才能不断改进器件设计。本期研讨会简要概述了功率器件并考虑了在这些器件研发增长背后的动力，这些器件参数如何影响最终产品的效率，以及应该做什么才能满足功率器件设计人员和测试工程师的需要。...