恩智浦NVT4555 SIM卡电源和电平转换器解决方案
时间：2012年11月22日 10:00
简介： NVT4555是由恩智浦半导体(NXP Semiconductors LTd)推出的SIM卡电源和电平转换器，它用于无线基带处理器和SIM卡的连接，符合所有ETSI， IMT-2000， ISO-7816 SIM/智能卡的接口要求。 NVT4555内置LDO，可以提供1.8V或2.95V 50mA两路可选稳压电源。并且提供在无线基带处理器和SIM卡之间的I/O， RST和CLK的三路电平转换。...
高功率半导体器件测试的要点、技巧和陷阱
时间：2012年08月15日 10:00
简介： 虽然功率半导体器件测试曾被认为是一个专业领域，但现在许多研究人员、大学和公司正在对此类器件进行测量。工程师和科学家在从小信号器件测试转移到功率半导体器件测试时将面临新的挑战。本期研讨会将介绍一些常见的挑战并回顾避开这些挑战的方法。 参加研讨会的网友将会了解以下内容： 1.如何检测并抑制器件振荡； 2.如何配置仪器并实现100A高脉冲电流的准确测量； 3.如何利用...
高功率半导体器件测试的基础
时间：2012年06月27日 10:00
简介： 近年来，为满足更高效率、更高功率最终产品的要求，对开发功率半导体器件的兴趣骤增。为了提高效率，研究人员把精力集中在改善某些关键器件参数，而且准确测试这些参数才能不断改进器件设计。本期研讨会简要概述了功率器件并考虑了在这些器件研发增长背后的动力，这些器件参数如何影响最终产品的效率，以及应该做什么才能满足功率器件设计人员和测试工程师的需要。...
什么是源测量单元（SMU）仪器，怎样为您的应用选择合适的源测量单元（SMU）仪器 ?
时间：2012年03月27日 10:00
简介： 源测量单元（SMU）可以提高生产效率，完成更全面的特性测试，并提高测试系统整体性能。然而，为了真正优化测试，在为应用选择合适的源测量单元（SMU）时，必须综合考虑“说明书中的性能指标”。 此次在线研讨会将介绍源测量单元（SMU）的工作原理，说明选择源测量单元（SMU）仪器时需要考虑的关键因素及性能，以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...
混合域示波器在数字射频系统设计与验证中的应用
时间：2011年12月15日 10:00
简介： 混合域示波器在数字射频系统设计与验证中的应用演讲大纲： 1. zigbee技术特点 2. MDO混合域示波器及其功能特点 3. Zigbee系统的时域频域联合调试 4. 模拟电池耗尽状态对射频电路的影响 5. 数字总线控制与射频电路功能分析 6. 数字射频系统中的噪声来源与杂散分析 7. 总结 了解更多关于泰克 MDO,请点击http://www1.tek.com/zh/sco...
非易失存储器-特性分析与测量技术
时间：2011年12月08日 10:00
简介： 寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器（NVM）的替代技术，例如正在进行的相变存储器（PCM/PRAM）、铁电存储器（FeRAM）、磁阻存储器（MRAM）和阻性存储器（ReRAM）。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多，但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析，例如瞬态开关性能、耐力，并需要动态电流测量。 非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLA...
最优低电流和高电阻测量技术
时间：2011年11月22日 10:00
简介： 许多种应用要求进行低电流（1GΩ）测量。例如，低电流测量用于确定FET的栅极漏电流，测试灵敏的纳米电子器件以及测量电容器的漏电流；高电阻测量用于确定绝缘体的电阻率，多芯电缆和连接器及印制电路板等器件的绝缘电阻。在测量高阻抗时，采用一些适当的技术避免误差非常重要。此研讨会详细介绍了低电流和高电阻测量过程中获得理想测量结果的一些方法和技术。 参加研讨会的人员将了解到高阻抗测量的基本原理以及如何进行高...
信号完整性网络分析仪SPARQ与仿真软件SI Studio
时间：2011年10月31日 10:00
简介： 高速电路实现前进行仿真、实现后进行验证，是高速电路设计的必要环节。力科公司为高速电路设计工程师、信号完整性工程师量身打造了一款创新的测试仪器：SPARQ-信号完整性网络分析仪,以及信号完整性仿真软件SI（Signal Integrity)Studio,帮助工程师快速准确地进行高速电路的仿真和验证。SPARQ是一种经济型投入即能精确、快速、简洁的测量S参数的新型仪器，与其配套的SI Studio软件...