运用独家超级深N沟道技术的恩智浦MOS场效应管介绍
时间：2014年10月14日 10:00
简介： 本次研讨会将介绍以下几方面： 1. 针对不断电系统的应用，MOS场效应管哪一些特性需要被关切。 2. 范例解释评估热插拔之瞬间所产生的大电流。 3. 恩智浦超级深N沟道技术的优胜之处。 4. 现有产品中封装对应于应用的建议。...
FPGA入门实验篇之数码管篇
时间：2014年05月29日 20:30
简介： 此系列教程主要分为FPGA学习方法篇、FPGA基础篇、FPGA实例篇以及FPGA设计技巧篇，其中FPGA基础篇又包括FPGA基础知识篇、硬件描述语言篇、FPGA开发工具篇、数字电路基础篇以及硬件电路篇；FPGA实例篇包括FPGA入门实验篇、FPGA进阶实验篇、IP核使用篇以及FPGA综合实验篇。视频共计54讲。 FPGA实例篇：FPGA的学习只有通过大量的操作与实践才能很好并快速的掌握，实例...
超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱
时间：2012年05月29日 10:00
简介： 本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果。...
高性价比、高效开关测试系统技术探讨
时间：2011年09月08日 10:00
简介： 保持测试系统具有高性价比和高效率是每个测试工程师追求的目标。当系统中包括不止一个待测器件(DUT)或测试点时，很好的切换待测体连接到源端或测试仪器端,对于整体的测试系统是非常重要的。设计满足系统需求的开关需要了解待测器件(DUT)、待测器件(DUT)数量、信号大小、所需速度以及传输信号的设备。本研讨会将介绍开关基本原理、开关种类（继电器、晶体管等)以及开关系统种类(多路复用器、开关阵列等)。...
大功率、高亮度LED电性测试的应用需要
时间：2011年07月07日 10:00
简介： 主要介绍大功率LED和大功率LED模块的区别,包括PACKAGED方式和不同的测试需求.对于大功率LED模块来说,介绍脉冲工作方式所带来的好处,另外着重强调了在进行大功率测试的时候对测试仪器的严格要求和怎样选择连接线以避免阻抗和感抗所带来的影响.最后介绍另外一种发光二极管的晶闸管效应,包括它的定义,如何进行测试等等。...