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恩智浦电容式传感器解决方案
时间： 2012年04月17日 10:00
简介： 本次研讨会主要介绍以下几点内容： 1.恩智浦电容式传感器的产品系列 2.恩智浦传感器的优点 3.恩智浦电容式传感器的演示板介绍...
如何借助赛灵思7系列目标设计平台提高设计生产力
时间： 2012年03月29日 10:00
简介： 此次研讨会将着重介绍赛灵思最新发布的7系列目标设计平台。除了介绍最新的Kintex-7 KC705评估套件、Virtex-7 VC707评估套件以及Kintex-7 FPGA DSP套件的技术细节之外， ，此次研讨会还将为您展示赛灵思7系列目标设计平台的路线图，使您能够提前全盘规划自己基于该平台的设计。借助赛灵思快速交付的目标设计平台，可以加速您率先启动7系列FPGA的设计开发。同时，目标设计平台...
什么是源测量单元（SMU）仪器，怎样为您的应用选择合适的源测量单元（SMU）仪器 ?
时间： 2012年03月27日 10:00
简介： 源测量单元（SMU）可以提高生产效率，完成更全面的特性测试，并提高测试系统整体性能。然而，为了真正优化测试，在为应用选择合适的源测量单元（SMU）时，必须综合考虑“说明书中的性能指标”。 此次在线研讨会将介绍源测量单元（SMU）的工作原理，说明选择源测量单元（SMU）仪器时需要考虑的关键因素及性能，以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...
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