时间： 2026年08月18日 10:00 距离会议当天还有 23天
简介： 智能眼镜正朝着更轻薄、更智能、更强大的方向持续演进。您设计的元器件能否跟上步伐？ 欢迎参加本次内容丰富的研讨会，我们将探讨专为下一代眼镜设计的最新音频和电源解决方案创新成果。了解我们的先进器件如何延长电池续航时间、实现出色音质，并无缝集成到紧凑型可穿戴设计中。我们还会介绍若干新兴技术领域，ADI将在其中发挥重要作用。无论您是在打造下一款重磅产品，还是在完善当前路线图，本次在线研讨会都将带您洞悉智...
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时间： 2010年12月15日 10:00
简介： 在数字系统数据传输率日趋加快的背景下，以往的许多设计、测试理念已经变得不再适用，一致性测试和调试变得尤其的突出。整个高速系统划分为三大子系统：Tx、Channal和Rx。在Tx测试中，需要越来越高速的测量设备，带宽性能逐渐成了测试的瓶颈；而单纯的Tx一致性测试还不足以确保整个系统的BER要求。Rx测试（Rx容限测试），在以往相对低速的系统测试中是没有考虑过的，如今Rx中集成了更多的复杂功能，如Eq...
时间： 2010年12月09日 10:00
简介： 构建可靠的工业与嵌入式测控系统，过程往往相当复杂。针对千变万化的待测信号和被控对象，往往需要充分理解信号的特点、定制不同的测量和控制策略，甚至进行自定义的硬件电路的开发，经过漫长的调试过程。在这种情况下，工程师不得不在系统性能与项目开发时间中做出选择。 在本讲座中，NI工程师将为您介绍如何利用LabVIEW图形化开发平台和FPGA技术，基于软件来定制您的工业与嵌入式测控系统，在确保性能的情...
时间： 2010年11月23日 10:00
简介： 随着半导体工艺的不断发展，数字信号的速率也愈来愈高，Gbps以上的高速信号已经随处可见。面对高速设计的新领域，硬件设计工程师们需要改变传统的设计理念，他们需要以更加超前的思维去思考自己将要设计的信号的质量，或许在制定产品设计方案的时候就需要进行调研；需要在设计过程的每一个环节去思考信号质量问题，如方案设计环节，原理图设计环境，PCB设计环节，测试验证环节等等；需要考虑到系统中的每一个构成成分可能给...
