
高功率半导体器件测试的基础
时间:2012年06月27日 10:00
简介: 近年来,为满足更高效率、更高功率最终产品的要求,对开发功率半导体器件的兴趣骤增。为了提高效率,研究人员把精力集中在改善某些关键器件参数,而且准确测试这些参数才能不断改进器件设计。本期研讨会简要概述了功率器件并考虑了在这些器件研发增长背后的动力,这些器件参数如何影响最终产品的效率,以及应该做什么才能满足功率器件设计人员和测试工程师的需要。...

什么是源测量单元(SMU)仪器,怎样为您的应用选择合适的源测量单元(SMU)仪器 ?
时间:2012年03月27日 10:00
简介: 源测量单元(SMU)可以提高生产效率,完成更全面的特性测试,并提高测试系统整体性能。然而,为了真正优化测试,在为应用选择合适的源测量单元(SMU)时,必须综合考虑“说明书中的性能指标”。 此次在线研讨会将介绍源测量单元(SMU)的工作原理,说明选择源测量单元(SMU)仪器时需要考虑的关键因素及性能,以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...

高性价比、高效开关测试系统技术探讨
时间:2011年09月08日 10:00
简介: 保持测试系统具有高性价比和高效率是每个测试工程师追求的目标。当系统中包括不止一个待测器件(DUT)或测试点时,很好的切换待测体连接到源端或测试仪器端,对于整体的测试系统是非常重要的。设计满足系统需求的开关需要了解待测器件(DUT)、待测器件(DUT)数量、信号大小、所需速度以及传输信号的设备。本研讨会将介绍开关基本原理、开关种类(继电器、晶体管等)以及开关系统种类(多路复用器、开关阵列等)。...

大功率、高亮度LED电性测试的应用需要
时间:2011年07月07日 10:00
简介: 主要介绍大功率LED和大功率LED模块的区别,包括PACKAGED方式和不同的测试需求.对于大功率LED模块来说,介绍脉冲工作方式所带来的好处,另外着重强调了在进行大功率测试的时候对测试仪器的严格要求和怎样选择连接线以避免阻抗和感抗所带来的影响.最后介绍另外一种发光二极管的晶闸管效应,包括它的定义,如何进行测试等等。...

如何为高亮度LED提供准确可靠的测试
时间:2011年05月31日 10:00
简介: 随着LED逐渐被广泛应用到各个领域,特别是高亮度的LED应用的高速发展和普遍使用,象汽车,照明,路灯等等.LED的电性测试也变的多样性,提出了更高的测试要求并更具挑战性,要很好的解决这些测试问题给LED提供准确可靠的测试结果,必须要了解问题产生的根源,KEITHLEY针对高亮度LED一些特别的测试,提供相应的解决方案来解决高亮度LED测试的以下问题: 1. LED自发热效应以及如何避免自发热效应...

新一代电源系统分析与测试方案
时间:2008年01月15日 09:00
简介: 1. 开关电源 (SMPS)技术的最新发展趋势 2. 如何利用泰克DPO4000提升开关电源系统效率 3. 如何利用泰克DPO4000提升开关电源可靠性 4. 如何利用泰克DPO4000应对开关电源设计中的PMbus和SMbus挑战 ...
