泰克公司 RFID 测试方案
时间：2012年01月10日 10:00
简介： RFID 技术概述 – RFID 定义及标准 – RFID 信号特点 – RFID 测试挑战 RFID 信号测试 – 嵌入式 RF 调测 – RFID 标准符合性测试 – RFID 互通性测试 泰克 RFID 测试方案 – MDO4000 混合域示波器在 RFID 嵌入式 RF 调测中的应用 – 实时信号分析仪及 MDO4000 在RFID 标准符合性测试中的应...
SFF 8431 SFP+ PHY 测试方案
时间：2011年12月22日 10:00
简介： SFF 8431 SFP+是在2009年编写的最佳定义标准, 适用于 8.5GbE和11.1GbE数据通信及存储区域网(SAN)应用的下一代可热插拔、小型、串行到串行多速率光学收发机。SFP+技术把时钟单元和数据恢复单元移出模块，移到线路卡上，从而大大缩小了尺寸，在一个机架中实现了每端口低功率及高端口密度。本讲座将为大家介绍SRP+的产品测试及面临的系列挑战,内容涵盖如下： 泰克以太网解决方案 ...
非易失存储器-特性分析与测量技术
时间：2011年12月08日 10:00
简介： 寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器（NVM）的替代技术，例如正在进行的相变存储器（PCM/PRAM）、铁电存储器（FeRAM）、磁阻存储器（MRAM）和阻性存储器（ReRAM）。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多，但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析，例如瞬态开关性能、耐力，并需要动态电流测量。 非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLA...
为您的下一个FPGA设计开启新的生产力时代
时间：2010年06月09日 10:00
简介： 赛灵思ISE12设计套件有望成为近十年来最受欢迎的产品， 帮助您实现融合了无数障碍的、极具挑战的设计目标！你不仅要努力实现更高的性能指标，利用更先进的FPGA架构，并遵守更严格的功耗预算，而且还要满足紧缩得更短的开发进度。 “少花钱多办事”或者“事半功倍”已经成为驱动当今FPGA设计流程发展的主题。 赛灵思ISE 12设计套件是针对Virtex-6和Spartan-6 FPGA 而推出的生产力...