热像改变您的工作，热分析技术大讨论
时间：2014年03月19日 10:00
简介： 您在日常工作中是否会设计温度检测或热分析？用点温？数采?还是红外热像仪？像头发丝一样细的被测目标如何检测？真空环境的加热炉内部如何检测？空间温度分布的检测？福禄克将在此次技术交流会中一一解答，分享多年红外使用经验，使您成为真正的红外专家。产品研发、品质管理、热分析，全套红外解决方案一并分享。同时，福禄克将向您隆重介绍融入了现代科技的最新红外热像仪，帮助您对连续的温度变化进行纪录和分析，为您带来前所...
非易失存储器-特性分析与测量技术
时间：2011年12月08日 10:00
简介： 寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器（NVM）的替代技术，例如正在进行的相变存储器（PCM/PRAM）、铁电存储器（FeRAM）、磁阻存储器（MRAM）和阻性存储器（ReRAM）。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多，但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析，例如瞬态开关性能、耐力，并需要动态电流测量。 非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLA...