m_关键词点播_Webinar_电子产品世界

什么是源测量单元（SMU）仪器，怎样为您的应用选择合适的源测量单元（SMU）仪器 ?

时间：2012年03月27日 10:00

简介：源测量单元（SMU）可以提高生产效率，完成更全面的特性测试，并提高测试系统整体性能。然而，为了真正优化测试，在为应用选择合适的源测量单元（SMU）时，必须综合考虑“说明书中的性能指标”。此次在线研讨会将介绍源测量单元（SMU）的工作原理，说明选择源测量单元（SMU）仪器时需要考虑的关键因素及性能，以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...

非易失存储器-特性分析与测量技术

时间：2011年12月08日 10:00

简介：寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器（NVM）的替代技术，例如正在进行的相变存储器（PCM/PRAM）、铁电存储器（FeRAM）、磁阻存储器（MRAM）和阻性存储器（ReRAM）。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多，但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析，例如瞬态开关性能、耐力，并需要动态电流测量。非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLA...

如何选择高精度万用表

时间：2011年03月29日 10:00

简介：高精度数字万用表是基本的电参数测量仪器，是从事精密设备研发和生产不可或缺的工具。目前数字万用表向着高精度、高稳定性、多测量、多分析、可程控的方向发展，市场上也是群雄逐鹿，产品种类多样，乱花渐欲迷人眼，作为电子工程师，弄清高精度万用表能帮助我们做什么，如何选择适合自己的开发工具，如何充分利用万用表功能提高测试分析效率，成为无法回避的问题。本次研讨会以DM3068高精度万用表为解剖对象，从高精度万用表...

恩智浦高速低功耗ARM Cortex-M3微控制器 - LPC1700

时间：2009年06月18日 10:00

简介：本次研讨会主要介绍恩智浦最新的LPC1700 系列微控制器。该系列微控制器以ARM公司的Cortex-M3（版本2）为内核，具有超低功耗，高性价比的特点。和恩智浦以往的ARM7微控制器一样，该系列微控制器同样具有性能卓越而丰富的外设，比如，以太网控制器，USB（包括Host，Device和OTG），CAN，12-bit ADC，DAC，专用于电机控制的PWM模块（带死区控制）以及QEI，I2S，超...

具有高速USB2.0 OTG接口的恩智浦LPC31xx系列ARM9微控制器(本培训内容来自于：Global Sources)

时间：2009年04月16日 10:00

简介：恩智浦半导体拥有业界最丰富的ARM系列微控制器产品。作为ARM7内嵌闪存微控制器方面的引领者，恩智浦同时也拥有基于ARM9、Cortex等多种ARM内核的微控制器产品。本次研讨会将介绍恩智浦半导体最新推出的具有高速USB2.0 OTG接口及业界最低成本的ARM9微控制器 - LPC313x及LPC315x系列产品。LPC313x系列产品能够给嵌入式开发人员带来更高性能、更低成本和功耗、更灵活的US...