了解TFT LCD和OLED显示器的直流特性
时间：2013年05月09日 10:00
简介： 本期在线研讨会概述了测量现代TFT LCD和OLED显示器直流特性所需的测试方法和测量设备。我们将讨论这些器件的独特设计带来的专有测量挑战以及如何克服这些挑战。我们还将对处于现代显示器核心位置的薄膜晶体管关键性能参数，例如关断泄露、亚域摇摆和其它参数，介绍相关测量方法。 研讨会目标 通过参加本期研讨会，您将了解以下内容： ·TFT LCD和OLED的独特测量要求 ·进行关键直流电气测量...
高功率半导体器件测试的要点、技巧和陷阱
时间：2012年08月15日 10:00
简介： 虽然功率半导体器件测试曾被认为是一个专业领域，但现在许多研究人员、大学和公司正在对此类器件进行测量。工程师和科学家在从小信号器件测试转移到功率半导体器件测试时将面临新的挑战。本期研讨会将介绍一些常见的挑战并回顾避开这些挑战的方法。 参加研讨会的网友将会了解以下内容： 1.如何检测并抑制器件振荡； 2.如何配置仪器并实现100A高脉冲电流的准确测量； 3.如何利用...
什么是源测量单元（SMU）仪器，怎样为您的应用选择合适的源测量单元（SMU）仪器 ?
时间：2012年03月27日 10:00
简介： 源测量单元（SMU）可以提高生产效率，完成更全面的特性测试，并提高测试系统整体性能。然而，为了真正优化测试，在为应用选择合适的源测量单元（SMU）时，必须综合考虑“说明书中的性能指标”。 此次在线研讨会将介绍源测量单元（SMU）的工作原理，说明选择源测量单元（SMU）仪器时需要考虑的关键因素及性能，以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...
非易失存储器-特性分析与测量技术
时间：2011年12月08日 10:00
简介： 寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器（NVM）的替代技术，例如正在进行的相变存储器（PCM/PRAM）、铁电存储器（FeRAM）、磁阻存储器（MRAM）和阻性存储器（ReRAM）。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多，但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析，例如瞬态开关性能、耐力，并需要动态电流测量。 非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLA...
R&S功率测量方案为射频微波测试保驾护航
时间：2011年12月01日 10:00
简介： 针对研发,生产和现场测试应用 1.功率测量原理简介 2.功率计与探头灵活多样的连接方式 3.信号通道多点功率监测 4.时域突发信号与脉冲信号测量 5.大功率信号测量 6.如何更精确的测量功率? ...
最优低电流和高电阻测量技术
时间：2011年11月22日 10:00
简介： 许多种应用要求进行低电流（1GΩ）测量。例如，低电流测量用于确定FET的栅极漏电流，测试灵敏的纳米电子器件以及测量电容器的漏电流；高电阻测量用于确定绝缘体的电阻率，多芯电缆和连接器及印制电路板等器件的绝缘电阻。在测量高阻抗时，采用一些适当的技术避免误差非常重要。此研讨会详细介绍了低电流和高电阻测量过程中获得理想测量结果的一些方法和技术。 参加研讨会的人员将了解到高阻抗测量的基本原理以及如何进行高...
如何为高亮度LED提供准确可靠的测试
时间：2011年05月31日 10:00
简介： 随着LED逐渐被广泛应用到各个领域,特别是高亮度的LED应用的高速发展和普遍使用,象汽车,照明,路灯等等.LED的电性测试也变的多样性,提出了更高的测试要求并更具挑战性,要很好的解决这些测试问题给LED提供准确可靠的测试结果,必须要了解问题产生的根源,KEITHLEY针对高亮度LED一些特别的测试,提供相应的解决方案来解决高亮度LED测试的以下问题: 1. LED自发热效应以及如何避免自发热效应...
如何选择高精度万用表
时间：2011年03月29日 10:00
简介： 高精度数字万用表是基本的电参数测量仪器，是从事精密设备研发和生产不可或缺的工具。目前数字万用表向着高精度、高稳定性、多测量、多分析、可程控的方向发展，市场上也是群雄逐鹿，产品种类多样，乱花渐欲迷人眼，作为电子工程师，弄清高精度万用表能帮助我们做什么，如何选择适合自己的开发工具，如何充分利用万用表功能提高测试分析效率，成为无法回避的问题。本次研讨会以DM3068高精度万用表为解剖对象，从高精度万用表...