物联网小电流测试的挑战及是德科技解决方案
时间：2016年09月22日 10:00
简介： 物联网设备在智能穿戴、医疗电子、智能家居和智能机器等各个方面的应用越来越广。一些物联网设备由于体积小，电池容量小，因此电池的续航时间问题变得尤为突出，如NB-IoT设备需要电池续航时间长达10年之久。与之相关的传感器,存储器，MCU芯片和电源管理模块的小电流测试成为研发工程师非常棘手的问题。 本次研讨会将会与大家一起讨论小电流和低功耗测试的重要性及其挑战,并结合是德科技电流...
如何在家电设计中选用绝缘封装类型
时间：2014年08月12日 10:00
简介： 本次研讨会将从以下几方面介绍： 1.恩智浦半导体可控硅工艺特点优劣比较； 2.塑封TO220及内绝缘封装器件耐压参数及温升测试比对； 3.相关绝缘封装选用应用案例介绍。 欢迎相关家电硬件设计工程师参加。...
现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪
时间：2013年07月31日 10:00
简介： 本期在线研讨会“现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪”介绍了曲线追踪仪及其在测试功率半导体器件方面的作用。还介绍了当前市场对功率器件的需求以及现代器件如何迫使传统曲线追踪仪超越其测量极限。研讨会讨论了如何用SMU取代传统曲线追踪仪而且为什么SMU是测试当今器件的最佳仪器。最后，研讨会将讨论如何将数台SMU搭建成为现代参数曲线追踪仪并实现I-V测量和高压C-V测量。 通过参加此研讨会，您...
高功率半导体器件测试的要点、技巧和陷阱
时间：2012年08月15日 10:00
简介： 虽然功率半导体器件测试曾被认为是一个专业领域，但现在许多研究人员、大学和公司正在对此类器件进行测量。工程师和科学家在从小信号器件测试转移到功率半导体器件测试时将面临新的挑战。本期研讨会将介绍一些常见的挑战并回顾避开这些挑战的方法。 参加研讨会的网友将会了解以下内容： 1.如何检测并抑制器件振荡； 2.如何配置仪器并实现100A高脉冲电流的准确测量； 3.如何利用...
高功率半导体器件测试的基础
时间：2012年06月27日 10:00
简介： 近年来，为满足更高效率、更高功率最终产品的要求，对开发功率半导体器件的兴趣骤增。为了提高效率，研究人员把精力集中在改善某些关键器件参数，而且准确测试这些参数才能不断改进器件设计。本期研讨会简要概述了功率器件并考虑了在这些器件研发增长背后的动力，这些器件参数如何影响最终产品的效率，以及应该做什么才能满足功率器件设计人员和测试工程师的需要。...
超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱
时间：2012年05月29日 10:00
简介： 本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果。...
什么是源测量单元（SMU）仪器，怎样为您的应用选择合适的源测量单元（SMU）仪器 ?
时间：2012年03月27日 10:00
简介： 源测量单元（SMU）可以提高生产效率，完成更全面的特性测试，并提高测试系统整体性能。然而，为了真正优化测试，在为应用选择合适的源测量单元（SMU）时，必须综合考虑“说明书中的性能指标”。 此次在线研讨会将介绍源测量单元（SMU）的工作原理，说明选择源测量单元（SMU）仪器时需要考虑的关键因素及性能，以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...
非易失存储器-特性分析与测量技术
时间：2011年12月08日 10:00
简介： 寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器（NVM）的替代技术，例如正在进行的相变存储器（PCM/PRAM）、铁电存储器（FeRAM）、磁阻存储器（MRAM）和阻性存储器（ReRAM）。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多，但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析，例如瞬态开关性能、耐力，并需要动态电流测量。 非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLA...