非易失存储器-特性分析与测量技术
时间：2011年12月08日 10:00
简介： 寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器（NVM）的替代技术，例如正在进行的相变存储器（PCM/PRAM）、铁电存储器（FeRAM）、磁阻存储器（MRAM）和阻性存储器（ReRAM）。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多，但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析，例如瞬态开关性能、耐力，并需要动态电流测量。 非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLA...
最优低电流和高电阻测量技术
时间：2011年11月22日 10:00
简介： 许多种应用要求进行低电流（1GΩ）测量。例如，低电流测量用于确定FET的栅极漏电流，测试灵敏的纳米电子器件以及测量电容器的漏电流；高电阻测量用于确定绝缘体的电阻率，多芯电缆和连接器及印制电路板等器件的绝缘电阻。在测量高阻抗时，采用一些适当的技术避免误差非常重要。此研讨会详细介绍了低电流和高电阻测量过程中获得理想测量结果的一些方法和技术。 参加研讨会的人员将了解到高阻抗测量的基本原理以及如何进行高...
信号完整性网络分析仪SPARQ与仿真软件SI Studio
时间：2011年10月31日 10:00
简介： 高速电路实现前进行仿真、实现后进行验证，是高速电路设计的必要环节。力科公司为高速电路设计工程师、信号完整性工程师量身打造了一款创新的测试仪器：SPARQ-信号完整性网络分析仪,以及信号完整性仿真软件SI（Signal Integrity)Studio,帮助工程师快速准确地进行高速电路的仿真和验证。SPARQ是一种经济型投入即能精确、快速、简洁的测量S参数的新型仪器，与其配套的SI Studio软件...
电性参数测试的基本知识
时间：2011年10月25日 10:00
简介： 更好的理解电性参数测试的基本知识,包括在测试电压,电流,温度,电阻等电参数的时候,怎样更准确的测试我们所需要的参数,理解准确度,灵敏度,分辨率等常见的测试仪器的规格指标,以便用户在构建自己的测试系统过程中,如何更好的利用现有的仪器和选择对自己来说性价比最好的测试仪器设备。...
高性价比、高效开关测试系统技术探讨
时间：2011年09月08日 10:00
简介： 保持测试系统具有高性价比和高效率是每个测试工程师追求的目标。当系统中包括不止一个待测器件(DUT)或测试点时，很好的切换待测体连接到源端或测试仪器端,对于整体的测试系统是非常重要的。设计满足系统需求的开关需要了解待测器件(DUT)、待测器件(DUT)数量、信号大小、所需速度以及传输信号的设备。本研讨会将介绍开关基本原理、开关种类（继电器、晶体管等)以及开关系统种类(多路复用器、开关阵列等)。...
太阳能电池特性及如何更好的进行测试
时间：2011年08月10日 10:00
简介： 了解太阳能电池的市场发展和广泛的使用空间,同时具体阐述SOALR的概念,特性和在测试过程中的关键参数,比如:测试短路电流、开路电压、最大功率输出,转换效率,串联电阻,绝缘电阻等等,准确有效的测试这些参数,另外如何有效的改变串联电阻和绝缘电阻来提高SOLAR的输出效率和保证太阳能电池的合理有效的使用. 活动参与者将通过此次研讨会学习： 如何测试短路电流、开路电压、最大功率输出及转换效率 如...
大功率、高亮度LED电性测试的应用需要
时间：2011年07月07日 10:00
简介： 主要介绍大功率LED和大功率LED模块的区别,包括PACKAGED方式和不同的测试需求.对于大功率LED模块来说,介绍脉冲工作方式所带来的好处,另外着重强调了在进行大功率测试的时候对测试仪器的严格要求和怎样选择连接线以避免阻抗和感抗所带来的影响.最后介绍另外一种发光二极管的晶闸管效应,包括它的定义,如何进行测试等等。...
PCI-Express Gen3端到端完整测试解决方案
时间：2011年06月23日 09:40
简介： PCI-Express总线自2004年诞生以来，凭借快速的传输速率，标准的硬件接口，在PC和通信类产品中已经成为主流的串行数据接口。PCI-Express在2006年就跨入了PCIe 2.0的5Gbps传输速率，正当众人期待PCIe 3.0的时候，它却姗姗来迟直到2010年才正式发布3.0规范，其最大的单通道传输速率已经达到8Gbps，编码方式也从8B/10B改为了128B/130B，有效传输效率...