现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪
时间：2013年07月31日 10:00
简介： 本期在线研讨会“现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪”介绍了曲线追踪仪及其在测试功率半导体器件方面的作用。还介绍了当前市场对功率器件的需求以及现代器件如何迫使传统曲线追踪仪超越其测量极限。研讨会讨论了如何用SMU取代传统曲线追踪仪而且为什么SMU是测试当今器件的最佳仪器。最后，研讨会将讨论如何将数台SMU搭建成为现代参数曲线追踪仪并实现I-V测量和高压C-V测量。 通过参加此研讨会，您...
Xilinx Zynq器件硬件和嵌入式软件的开发–ZYNQ开发在线培训
时间：2013年06月21日 14:00
简介： Xilinx Zynq器件包含ARM Cortex-A9双核和丰富的可编程逻辑资源，目前已经开始量产。作为FPGA业界领先的All Programmable SOC芯片已应用到众多领域中，尤其在一些非通讯类的新兴市场会有巨大的发展潜力，但同时也给硬件和软件设计人员带来了挑战。本次网上研讨会中，安富利的技术专家将深入探讨Xilinx Zynq器件在硬件和软件开发的关键技术以及具体应用方案，旨在为广大...
了解电性量测基本原理
时间：2013年03月26日 10:00
简介： 许多人需要进行电性量测，但未必是该领域的专家。无数的应用都需要电流、电压、电阻和温度等量测，甚至时常需实现不容易达到的量测品质水准。无论是选择测试设备、设计测试系统，或只是想使用现有设备进行测量，您需要了解一些基本的检查要项，以确保您的最终量测结果能符合要求。...
恩智浦推动蜂窝基站的Doherty功放设计进入新阶段
时间：2012年08月16日 14:00
简介： 恩智浦半导体是RF Power技术的引领者，从过去的Bipolar到现在的 LDMOS，以及将来的GaN功放管，恩智浦始终引领着市场发展，其RF Power产品应用已经覆盖了广播、通信、微波等多个领域。 本次研讨会将讨论恩智浦基站相关的RF Power产品,通过本次研讨会，你将了解到： 1. 恩智浦半导体RF Power的概况与现状 2. 恩智浦Gen8 LDMOS 器件特点 3....
高功率半导体器件测试的要点、技巧和陷阱
时间：2012年08月15日 10:00
简介： 虽然功率半导体器件测试曾被认为是一个专业领域，但现在许多研究人员、大学和公司正在对此类器件进行测量。工程师和科学家在从小信号器件测试转移到功率半导体器件测试时将面临新的挑战。本期研讨会将介绍一些常见的挑战并回顾避开这些挑战的方法。 参加研讨会的网友将会了解以下内容： 1.如何检测并抑制器件振荡； 2.如何配置仪器并实现100A高脉冲电流的准确测量； 3.如何利用...
高功率半导体器件测试的基础
时间：2012年06月27日 10:00
简介： 近年来，为满足更高效率、更高功率最终产品的要求，对开发功率半导体器件的兴趣骤增。为了提高效率，研究人员把精力集中在改善某些关键器件参数，而且准确测试这些参数才能不断改进器件设计。本期研讨会简要概述了功率器件并考虑了在这些器件研发增长背后的动力，这些器件参数如何影响最终产品的效率，以及应该做什么才能满足功率器件设计人员和测试工程师的需要。...
超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱
时间：2012年05月29日 10:00
简介： 本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果。...
什么是源测量单元（SMU）仪器，怎样为您的应用选择合适的源测量单元（SMU）仪器 ?
时间：2012年03月27日 10:00
简介： 源测量单元（SMU）可以提高生产效率，完成更全面的特性测试，并提高测试系统整体性能。然而，为了真正优化测试，在为应用选择合适的源测量单元（SMU）时，必须综合考虑“说明书中的性能指标”。 此次在线研讨会将介绍源测量单元（SMU）的工作原理，说明选择源测量单元（SMU）仪器时需要考虑的关键因素及性能，以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...