现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪
时间：2013年07月31日 10:00
简介：本期在线研讨会“现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪”介绍了曲线追踪仪及其在测试功率半导体器件方面的作用。还介绍了当前市场对功率器件的需求以及现代器件如何迫使传统曲线追踪仪超越其测量极限。研讨会讨论了如何用SMU取代传统曲线追踪仪而且为什么SMU是测试当今器件的最佳仪器。最后，研讨会将讨论如何将数台SMU搭建成为现代参数曲线追踪仪并实现I-V测量和高压C-V测量。
通过参加此研讨会，您将学习并理解：
— 传统曲线追踪仪在测试功率半导体器件的作用
— 市场对现代功率半导体器件的需求
— 为什么传统曲线追踪仪在测试当今器件上表现不足，而且为什么SMU是取代曲线追踪仪的最佳测量仪器。
— 如何将SMU搭建为现代参数曲线追踪仪
— 如何用参数曲线追踪仪进行高压C-V测量
演讲嘉宾
- 演讲嘉宾：
- 郭滨
- 嘉宾职务：
- 产品经理
- 嘉宾简介：
- 在测试测量行业有10年的工作经验，担任过销售，市场和产品管理职位。2010年加入美国吉时利仪器公司目前担任销售管理的职务。主要负责KEITHLEY的行业应用和市场拓展工作。在纳米材料和纳米器件的测量方面进行深入学习与研究。
答疑嘉宾
- 答疑嘉宾：
- 郭滨
- 嘉宾职务：
- 产品经理
- 嘉宾简介：
- 在测试测量行业有10年的工作经验，担任过销售，市场和产品管理职位。2010年加入美国吉时利仪器公司目前担任销售管理的职务。主要负责KEITHLEY的行业应用和市场拓展工作。在纳米材料和纳米器件的测量方面进行深入学习与研究。
奖项设置
- 奖品说明：
- 凡报名且全程参加在线研讨会的听众，会后将每人得到EEPW提供的10元京东礼品券。
相关资料
关于公司
吉时利仪器公司为全球专业的电子制造商提供高准确度的用于产品测试、过程监控、产品发展和研究的各种测量解决方案。我公司大约拥有 500 多种产品，分别用于：源、测量、连接、控制或 DC 通信和光电信号。我们可以提供完整的包括仪器和主机插板的解决方案，既可作为系统的一个组件，也能作为独立的解决方案。我们客户是制造、产品更新和研究领域的工程师、技术人员和科学家。