智能分区和物联网系统发展
时间：2017年01月12日 10:00
简介： ADI公司的物联网技术总监Colm Prendergast将在本次研讨会介绍物联网(IoT)系统中的“智能分区”概念，演示开发人员如何在物联网信号路径中的适当位置添加智能技术以提供更好的洞察。他还将论及如何利用这些洞察以及硬件套件和云开发平台来构建优化的物联网解决方案。...
环路响应（波特图）测试与结果分析及其他开关电源测试热点问题
时间：2016年10月18日 10:00
简介： 环路响应（波特图）作为开关电源设计行业三大难点（磁设计，电磁兼容，环路补偿设计）之一，其结果关乎着开关电源寿命，动态响应，噪声，输出纹波，抗干扰等诸多性能指标。但是因为传统的环路响应测试设备成本高、利用率低，操作复杂等因素制约，环路响应作为开关电源领域最重要的一项测试却在业界的普及率非常的低。 是德科技于2015年率先推出基于示波器的环路响应测试方案，以其超高的利用率，媲美专用测试设备的准确性，...
恩智浦用于USB TypeC & Pd 的负载开关介绍
时间：2015年05月21日 10:00
简介： 本次研讨会将从以下几方面详细介绍恩智浦目前针对USBPD提供的负载开关产品： 1. 恩智浦负载开关产品的规格 2. 恩智浦负载开关产品的保护特性 3. 恩智浦负载开关产品和分立方案的比较...
恩智浦模拟开关和负载开关在手持设备中的应用
时间：2014年12月09日 10:00
简介： 本次研讨会将介绍以下两部分内容： 1. 恩智浦模拟开关的应用及新品介绍； 2. 恩智浦负载开关的应用及新品介绍；...
非易失存储器-特性分析与测量技术
时间：2011年12月08日 10:00
简介： 寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器（NVM）的替代技术，例如正在进行的相变存储器（PCM/PRAM）、铁电存储器（FeRAM）、磁阻存储器（MRAM）和阻性存储器（ReRAM）。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多，但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析，例如瞬态开关性能、耐力，并需要动态电流测量。 非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLA...
高性价比、高效开关测试系统技术探讨
时间：2011年09月08日 10:00
简介： 保持测试系统具有高性价比和高效率是每个测试工程师追求的目标。当系统中包括不止一个待测器件(DUT)或测试点时，很好的切换待测体连接到源端或测试仪器端,对于整体的测试系统是非常重要的。设计满足系统需求的开关需要了解待测器件(DUT)、待测器件(DUT)数量、信号大小、所需速度以及传输信号的设备。本研讨会将介绍开关基本原理、开关种类（继电器、晶体管等)以及开关系统种类(多路复用器、开关阵列等)。...
太阳能电池特性及如何更好的进行测试
时间：2011年08月10日 10:00
简介： 了解太阳能电池的市场发展和广泛的使用空间,同时具体阐述SOALR的概念,特性和在测试过程中的关键参数,比如:测试短路电流、开路电压、最大功率输出,转换效率,串联电阻,绝缘电阻等等,准确有效的测试这些参数,另外如何有效的改变串联电阻和绝缘电阻来提高SOLAR的输出效率和保证太阳能电池的合理有效的使用. 活动参与者将通过此次研讨会学习： 如何测试短路电流、开路电压、最大功率输出及转换效率 如...
嵌入式Linux开发系列讲座——第一讲：QT应用开发实战体验
时间：2011年04月19日 10:00
简介： 本次基于电子产品世界网站平台的在线培训，受众群体主要是高校在读的大学生及初级工程师，其目的是通过五个嵌入式Linux开发领域中的专题技术讲解，并配合典型实用的案例演示，帮助参加在线讲堂的学生了解企业中嵌入式开发核心技术的运用方式以及开发流程，快速熟悉相关嵌入式开发的软硬件平台，初步掌握使用相关嵌入式专业编程知识实现实用程序和案例的方式和方法。 具体在线讲堂主题及相关内容介绍如下： 专题一 ...